场发射扫描电镜技术参数.docxVIP

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  • 2024-02-06 发布于上海
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场发射扫描电镜技术参数

一、系统基本信息:

系统名称:场发射扫描电镜。

系统数量:1套。

系统组成:主机,Schottky型场发射电子源,无交叉光路Gemini镜筒,圆形一体化样品室,5轴全自动马达驱动样品台,环形Inlens二次电子探测器,样品室二次电子探测器,背散射电子探测器,CCD摄像机,计算机系统,操作软件,真空系统,循环水冷却系统、空气压缩机、能谱仪,原装进口离子溅射仪,备用热场发射灯丝1根,导电胶带2卷。

二、用途:该设备主要用于金属材料、非金属材料、纳米材料的检测,可以对样品进行直接的超高分辨微观形貌观察和微区元素分析。

三、技术要求:1工作条件:

电源电压:220V±10V,单相50Hz,工作温度:18°C-25°C,磁场:≤3mGauss,湿度:≤60%RH,接地:独立的接地线。

仪器运行的持久性:长时间连续工作。2性能指标:

★2.1分辨率:0.8nm@15kV 1.6nm@1kV

★2.2加速电压:0.02-30kV

★2.3加速电压调整步长:每档10V连续可调

探针电流:12pA-20nA

稳定性:优于0.2%/h

2.6放大倍数范围:10-1,000,000×

电子光学系统:

电子发射源:Schottky型场发射(热场发射)电子源。

★3.2Gemini镜筒:无交叉光路设计,电子束仅在样品表面进行一次

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