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一种结构化和非结构化数据建立集成电路良率预测模型.pdfVIP

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  • 2024-02-07 发布于四川
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一种结构化和非结构化数据建立集成电路良率预测模型.pdf

    一种结构化和非结构化数据建立集成电路良率预测模型，对结构化数据和非结构化数据分别处理，得到学习模型，并采用堆叠学习的方式得到堆叠学习框架，以及计算出各学习模型中影响最大变量的重要性，建立集成电路良率预测模型。增强良率预测的准确性，提高了模型的可解释性和稳定性，同时建立的集成电路良率预测模型，减少测试的成本，提升制造效率，与此同时，以可视化图表的方式呈现给工程师进行影响良率的分析，减少分析时间，提高分析的准确性和效率。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117520740A

    (43)申请公布日2024.02.06

    (21)申请号202311313566.5G06N20/10(2019.01)

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