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用于检测存储器故障的测试方法和测试电路.pdfVIP

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  • 2024-02-24 发布于四川
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用于检测存储器故障的测试方法和测试电路.pdf

    本申请公开用于检测存储器故障的测试方法和测试电路。测试方法包括对存储器的待测试存储空间执行如下多次读写操作：按地址降序或地址升序进行写0操作，按地址降序进行读0操作、写1操作，按地址升序进行多次读1操作、写0操作、读0操作、写1操作，按地址升序进行读1操作、写0操作、读0操作，按地址升序进行多次读0操作、写1操作、多次读1操作、写0操作，按地址升序进行读0操作；将多次读写操作中读出的数据与期望数据进行比较，以确定待测试存储空间内是否有地址存在故障。该测试方法实现了故障检测覆盖率的提高。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117594107A

    (43)申请公布日2024.02.23

    (21)申请号202410072219.6

    (22)申请日2024.01.18

    (71)申请人安徽大学

    地址230601

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