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富勒烯在硅表面吸附的密度泛函理论研究的中期报告

富勒烯是一种具有特殊结构和性质的碳纳米材料，具有广泛的应用前景，如纳米电子器件的制备、催化剂合成、生物医学等。在这篇中期报告中，我们主要研究了富勒烯在硅表面吸附后的结构与性质，利用密度泛函理论方法，我们计算了不同富勒烯分子在硅表面的吸附能、几何结构和电子结构。

我们首先研究了富勒烯在硅表面吸附时的吸附能，发现吸附能与富勒烯的大小和几何形状相关，对于C60分子而言，其吸附能大约在1.4~1.7eV之间，而对于更小的富勒烯分子，如C20和C30，其吸附能则比C60要高。此外，我们还计算了不同吸附位点的吸附能，发现C60分子倾向于在硅表面的凹陷区域中吸附，而C20和C30则更喜欢吸附在表面的平坦区域上。

接着，我们研究了富勒烯与硅表面的几何结构。我们发现，富勒烯分子在硅表面的吸附位置和几何结构会影响其电子性质。我们对比了C60分子在不同吸附位置和角度时的结构，发现其几何构型与电子结构呈现出了一定的关联性，即C60分子在硅表面上的吸附角度会导致其轨道能级分布的改变。

最后，我们研究了富勒烯分子在硅表面的电子结构。我们发现，富勒烯吸附在硅表面后，会给表面带来一些电荷转移，并且会形成一定的电子结构相互作用。通过计算其体系的分子轨道、电荷密度分布和结合能等电子性质，我们发现在硅表面上的富勒烯分子与硅表面形成了一些共价键和范德华相互作用，而这些电子性质对于富勒烯在硅表面上的应用具有重要的意义。

综上所述，本研究结果对于深入理解富勒烯在硅表面吸附的结构与性质具有一定的参考意义，可为其在纳米电子器件的制备和催化剂合成等领域的应用提供一些基础的理论支持。