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功率半导体及LED用封装热阻检测方法JEDEC标准
美国明导科技宣布，基于该公司MicReD部门与德国英飞凌科技
AutomotivePowerApplication部门2005年共同发表创意时所提出的半导体封热
阻检测方法，已成为JEDEC（JointElectronDeviceEngineeringCouncil）标准。
该方法主要针对功率半导体及LED等领域，用于散热路径单一的场合。
相应规格于2010年11月被管理半导体封装热特性评测技术的JEDECJC15委
员会认定为“JESD51-14”标准。该标准命名为：“在热量流过单一路径的半导体
器件时，用于检测结（注：器件的结点）－壳（注：封装的外壳）间热阻的双
面瞬态检测方法”。
此次的标准（以及明导和英飞凌于2005年共同发表的方法）基于
MicReD推出的下述技术：
（1）静态的瞬态热阻检测技术（已成为JEDEC51-1标准）；
注：使用T3Ster（右上）的热阻检测方法。首先使用T3Ster求出温度的时
间分布（左图）。然后使用相关软件将时间分布信息转换为构造函数（右图）。
（点击图片放大）
（2）利用由该技术获得的时间-温度分布信息导出构造函数（显示热阻-
热容关系的函数或图形）。
另外，（1）和（2）两技术已通过使用明导提供的热阻检测用硬件“T3Ster”
及其软件，实现了商品化。
JESD51-14的方法在包含隔离层和不包含隔离层两种场合（这就是“双面”
的含义）均基于（1）和（2）这两种技术，推算出各自的构造函数。构造函数
一致的部分可作为结-壳间热阻高精度求出。另外，在微处理器等散热路径不单
一时，通过改为单一路径的设计并多次检测，便可求出热阻。
在此次明导宣布上述消息的同时，英飞凌在2011年3月20～24日于美
国举行的国际会议“2011IEEESEMI-THERMThermalMeasurement,Modeling
andManagementSymposium”上，发表了与JESD51-14相关的论文。另外，上
面提到的MicReD部门在2005年时是一家总部设在匈牙利布达佩斯的企业
（MicReDKft.）。MicReD后被英国FlomericsGroupPLC.收购。后来明导又于
2008年收购了Flomerics，现在变成了明导的MicReD部门。
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