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千分尺内校指导书

千分尺内校指导书

1、目的:

为确保本公司千分尺的内校作业有所遵循，特制定本标准。

2、适用范围:

凡本公司所使用的千分尺均适用。

3、校正标准件:

标准块规(1.0mm-100mm)组，平行平晶

4、温湿度要求:

湿度不超过70%RH。

检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合表1的规定。

表1室内温度及被检千分尺在室内平衡温度的时间

受检千分尺名称

受检千分尺测量范围（mm）

室内温度对20℃的允许偏差（℃

平衡温度的时间（h）

千分尺

校对用的量杆

外径、板厚、壁厚

～100

±5

±3

2

＞100～500

±4

±2

3

数显

～100

±3

±1

3

＞100～200

±2

±1

4

＞200～500

±1

±1

5

5、通用技术要求：

5.1外观

5.1.1千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。

5.1.2千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。

5.1.3千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。

5.1.4后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。

5.2各部分的相互作用

5.2.1微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。

5.2.2可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效

5.2.3带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。

5.2.4数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。

6.计量性能要求

6.1测微螺杆的轴向串动和径向摆动

测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。

6.2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移

测砧与测微螺杆测量面的相对偏移应不超过表2规定。

表2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量（mm）

测量范围上限

偏移量

测量范围上限

偏移量

25

0.05

175

0.25

50

0.08

200，225

0.30

75

0.13

250，275，300

0.40

100

0.15

325，350，375

0.45

125

0.20

400，450

0.50

150

0.23

475，500

0.65

6.3数显外径千分尺的示值重复性

数显外径千分尺的示值重复相应不大于1μm。

6.4数显外径千分尺任意位置时数值漂移

在任意位置时的数值漂移应不大于1μm/h。

6.5测量面的平面度

外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm.

6.6示值误差

外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3（下页）规定。

壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过±8μm。

数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表4（下页）规定。

对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差，微测头各点相对于零件的示值最大允许误差不超过±3μm。

6.7校对用量杆

外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表5规定。

一般情况下目力观察千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移，（0～25）mm的千分尺可使两测量面直接接触观察器偏移量，测量上限大于25mm的千分尺可借助校对量杆进行检定。

如有异议，可按下列方法检定：测量范围（0～25）mm的千分尺可用塞尺比较，测量上限大于25mm的外径千分尺用专用检具测出偏移量。

7.3.5测量面的平面度

对于新制的和修理后的千分尺，用二级平晶以技术光波干涉法检定，将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。外径千分尺测量面不应出现2条以上，壁厚千分尺、板厚千分尺不应出现5条以上，数显千分尺不应出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带。

对于后续检定的可用刀口尺用光隙法检定。

在距测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽略不计。

7.3.6数显外径千分尺的示值重复性

在相同测量条件下重复测量5次分别读数，示值重复性以最大与最小读数的差值确定。

7.3.7数显外径千分尺任意位置时数值漂移

在测量范围内的任意位置锁紧测微螺杆，观察1h内显示值的变化不超过规定值。

7.3.8两测量面的平行度

测量上限至100mm千分尺两测量面的平行度用4块厚度差为1/4测微螺杆螺距的平行平晶检定，也可用量块检定，数显千分尺用4等量块检定，外径、板厚千分尺用5等量块检定。