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数字集成电路测试生成算法研究的开题报告

一、选题背景和意义

数字集成电路是现代电子技术中的核心领域之一，广泛应用于计算机、通信、汽车电子、消费电子等多个领域。在数字集成电路开发过程中，测试是不可避免的环节，测试的质量和效率直接影响产品的质量和开发周期。如何提高数字集成电路测试的效率和准确率是一个重要的问题。

针对数字集成电路测试的问题，测试生成算法是解决方案之一。测试生成算法是根据数字集成电路的特定设计规则和标准，自动生成针对数字集成电路的测试序列的一种算法。该算法可以大大提高测试效率和准确率，同时降低测试成本。

因此，该选题的研究对于提高数字集成电路测试的效率和准确率，以及降低测试成本，具有非常重要的现实意义和应用价值。

二、研究内容和目标

本研究旨在针对数字集成电路测试生成算法的现有问题，设计一种高效、准确的测试生成算法，以提高数字集成电路测试的效率和准确率，同时降低测试成本。

具体内容包括：

（1）调研数字集成电路测试生成算法的现有研究和应用情况，总结测试生成算法的优缺点和存在的问题。

（2）确定数字集成电路测试生成算法的核心算法和流程，并进行算法实现。

（3）设计实验验证算法的性能，并与现有的测试生成算法进行对比，验证算法的效果和优劣。

（4）针对实验结果进行分析，总结测试生成算法的优劣和改进方向。

目标：

（1）设计一种高效、准确的数字集成电路测试生成算法。

（2）验证算法的效果和优劣。

（3）总结算法的优点和缺点，并提出改进方案。

三、研究方法和技术路线

本研究选用以下研究方法：

（1）文献研究法：对数字集成电路测试生成算法的现状、问题和研究进展进行调研，分析存在的问题和研究方向。

（2）算法设计和实现：根据测试生成算法的核心原理和流程，设计一种高效、准确的测试生成算法，并进行算法实现。

（3）实验验证：基于数字集成电路的真实测试数据，对设计的测试生成算法进行实验验证，并与现有的测试生成算法进行对比以验证算法的效果和优劣。

（4）数据分析和总结：针对实验数据进行分析，总结测试生成算法的优点和缺点，并提出改进方案。

研究技术路线：

（1）文献调研-（2）算法设计和实现-（3）实验验证-（4）数据分析和总结

四、研究预期成果

（1）设计一种高效、准确的数字集成电路测试生成算法，并进行算法实现。

（2）验证算法的效果和优劣，并与现有的测试生成算法进行对比。

（3）总结测试生成算法的优点和缺点，并提出改进方案。

（4）发表相关学术论文和报告，推广测试生成算法在数字集成电路测试中的应用。

五、研究工作计划

阶段|工作内容|时间安排

---|---|---

第一阶段|文献调研、算法设计|3个月

第二阶段|算法实现、实验验证|6个月

第三阶段|数据分析、总结撰写论文|3个月

六、研究团队和资金预算

研究团队：本科生1-2人，硕士生1人，导师1名。

资金预算：仪器设备费、材料费、差旅费等各项费用共计10万元。

七、参考文献

[1]任鹏程.数字集成电路设计与测试[M].北京:电子工业出版社,2013.

[2]WANGWei,WANGJun,JIAOLi-cheng.Testgenerationfordigitalcircuitsbasedonfault-orientedtestabilityanalysis[J].JournalofElectronicsInformationTechnology,2020,42(9):2219-2225.

[3]JiangJiaqi,LiuXiaogang.DigitalCircuitTestGenerationAlgorithmBasedonHybridOptimizationAlgorithm[J].JournalofElectronicsInformationTechnology,2021,43(4):993-998.

[4]ZhangXiaohong,LuFei,ZhaoYuxiao.DesignofAutomaticTestGenerationSystemforDigitalCircuitBasedonFPGA[J].JournalofElectronicsInformationTechnology,2021,43(2):394-400.

[5]KoopmanP,ChakrabartyK.Verifyingtestvectorsgeneratedbybuilt-inself-test[J].IEEETransactionsonVeryLargeScaleIntegra