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数字信号处理系统芯片的可测试性设计技术研究的中期报告

摘要：

数字信号处理系统（DSP）在现代通信系统、娱乐系统和工业控制系统中具有广泛的应用。而DSP系统所涉及的芯片设计中有一个重要的问题就是可测试性设计。在本报告中，我们介绍了数字信号处理系统芯片的可测试性设计技术的中期研究成果。具体来说，我们研究了基于自适应扫描链的DSP芯片测试技术和基于非速度受限码的DSP芯片测试技术，并分别在仿真环境下进行了验证。结果表明，这两种可测试性设计技术能够有效地提高DSP芯片的测试覆盖率和测试速度，提高测试效率，能够满足高质量和高可靠性的DSP系统的测试要求。

关键词：数字信号处理系统；芯片设计；可测试性设计；自适应扫描链；非速度受限码；测试覆盖率；测试速度；测试效率。

1.研究背景

数字信号处理系统作为一个通用的信号处理技术，已经广泛应用于通信、控制、模拟信号处理和测量等领域。DSP系统所涉及的芯片设计中有一个重要的问题就是可测试性设计。传统的测试技术在应对高速复杂的DSP系统测试时出现了很多问题，如测试时间较长，覆盖率不足等。因此，DSP系统芯片的可测试性设计成为了一个研究热点。

2.研究内容

在本报告中，我们研究了基于自适应扫描链的DSP芯片测试技术和基于非速度受限码的DSP芯片测试技术。具体内容如下：

2.1基于自适应扫描链的DSP芯片测试技术设计

自适应扫描链（ASC）是一种新型的可测试性设计技术，可以提高测试覆盖率和测试速度。在本研究中，我们设计了一种基于ASC的DSP芯片测试技术。

我们的测试方案包括以下步骤：

（1）在芯片设计中加入扫描链。

（2）将扫描链分为多个批次，并在测试过程中进行自适应控制。

（3）通过ASC接口与测试平台进行通信，实现测试数据的传输和接收。

我们在仿真环境中进行了实验，结果表明，我们的可测试性设计方案可以提高DSP芯片的测试覆盖率和测试速度，提高测试效率。

2.2基于非速度受限码的DSP芯片测试技术设计

非速度受限码（NRZ码）是一种新兴的测试方法，可以提高测试速度和测试效率。在本研究中，我们研究了基于NRZ码的DSP芯片测试技术设计。

我们的测试方案包括以下步骤：

（1）根据测试需要，设计出测试模式的NRZ码序列。

（2）将NRZ码序列与输入信号相乘,得到测试结果。

（3）将测试结果与预期结果进行比对，从而得出测试结果的准确性。

我们在仿真环境中进行了实验，结果表明，我们的基于NRZ码的可测试性设计方案可以提高DSP芯片的测试速度和测试效率，同时保证测试准确性。

3.研究结论

本研究介绍了数字信号处理系统芯片的可测试性设计技术的中期研究成果。我们研究了基于自适应扫描链和基于非速度受限码的DSP芯片测试技术，并分别在仿真环境下进行了验证。结果表明，这两种可测试性设计技术能够有效地提高DSP芯片的测试覆盖率和测试速度，提高测试效率，能够满足高质量和高可靠性的DSP系统的测试要求。在后续研究中，我们还将尝试将这两种可测试性设计技术应用到实际DSP芯片测试中，以期在实际应用中验证其实用性和可靠性。