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基于FPGA的产品表面工业缺陷检测系统
摘要
在工业产品制造的过程中，次品检测是其中的一个步骤。传统的工厂质检大多数仍然采用人工抽检的方式进行，有次品率低等缺点。本课题拟采用嵌入式方法设计一套产品表面缺陷检测系统，设计检测算法、训练模型，优化依赖于高速CCD相机的传统检测系统。在众多嵌入式平台中，由于FPGA的神经网络模型加速效果明显，符合传统工厂的生产需求，和缺陷检测的要求契合，因此本文选择了ZYNQ开发平台。本系统采用卷积神经网络进行缺陷分类，通过Overlay程序实现神经网络的加速，完成了三种模式的卷积模块（full、same和valid）和两种模式的池化模块（平均池化和
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