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同位素丰度测量基准方法

1范围

同位素丰度测量基准方法适用于使用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、热电离质谱仅(TIMS)、同位素比质谱仪(IRMS)等类型质谱仅器准确测量元素的同位素丰度、组成或同位素比值。

2引用文件

JJF1001—2011通用计量术语及定义

JJF1135—2005化学分析测量不确定度评定

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3术语及定义

3.1同位幸isotope

具有相同质子数、不同中子数(或不同质量数)的同一元素的不同原子。3.2同位素丰度isotopicabundance

同位素原子在元素总原子数中所占的百分比(%)。

3.3同位素组成isotopiccomposition

以重量或原子百分比表示的某元素中各同位素所占的比例，并且它们的总和等于1。3.4同位素比isotoperatio

两种同位素的摩尔数、或原子个数、或离子个数的数量比。

3.5浓缩同位素isotopeenrichedmaterial

通过富集方法获得的同位素物质。

注：常用的富菜方法有气体扩散法、电磁分离法等。

3.6质量歧视效应massdiscriminationeffect

在对样品进行质谱分析时，离子运动的速度与其质量的平方根成反比，在样品解离或原子化、电离、离子传输和检测过程中，由于轻、重同位素的质量不同导致了其行为上的差异。致使两种同位素离子流比的测量值偏离真实值；而且两种同位素的质量差别越大。测量值与真实值的偏离程度也越大。

3.7质量歧视效应校正系数massdiscriminationfactor,K

用于校正质量歧视效应的系数，或称为质量偏倚校正系数。K表示为某元素的一对同位素比的配制值与其测量值之比：

3.8同位素有证标准物质certifiedisotopicreferencematerial

给出同位素丰度或丰度比认定值，附有认定证书的标准物质。

UF1508—2015

离子被全部接收测量，测量结果为约定真值：

—采用普通质谱测量模式，用逐步迭代校正计算方式，推算出结果。

6.4校正样品的配制

a)根据实际待测样品的同位素组成设定系列校正样品中同位素比配制范围和数量，校正样品中应包含与实际待测样品的同位素比值相同的样品。且同位素比值范围分布于待测同位素比值的两侧；

b)使用5.3中要求的高精密度天平称量配制，每种浓缩同位素试剂的称量量应不低于100mg,须对称量量值进行空气浮力校正；

c)校正样品的化学形态应综合考虑和权衡样品均匀、稳定、贮存和质谱测量的要求。

7校正样品中同位素比值配制值的计算

以用某元素(E)的三种浓缩同位素(i,j,k)配制溶液校正样品为例。使用公

式(1)和公式(2)分别计算出校正样品中同位素i、k与同位素；比值的配制值。

式中；

A.B.C——分别代表浓缩同位素i。j·k物质；

(1)

(2)

R(E//E)、R(+E/E)——分别为校正样品中同位素i、k与同位素；的丰度比值。

后面简写为Ry、R

C、C,C——分别为浓缩同位素A。B,C溶液的质量摩尔浓度，

mol·g1.以C,为间，,其中，W,是配

制浓缩同位素溶液A时该浓缩同位素试剂样品的质量，PA是该浓缩同位素的纯度，W,是配制该浓缩同位素溶液的质量，M,是该浓缩同位素的原子摩尔质量；

W?、W?、We——分别为配制同位素校正溶液时浓缩同位素A,B,C溶

液的称量质量，gi

Fa、*fusfe——分别为浓缩同位素A,B.C中同位素i的丰度值，其

他同理。以fx为例，假设该元素有3个同位素，则同位素丰度与同位素比值的关系如下：

8质谱测量

8.1仪器操作

使用适合于待测元素同位素比值测量的质谱仪。测量时按照所用质谱仪的操作说明

使用仪器，同时注意满足仪器对实验室环境条件的要求。

8.2测量程序设计

使用校正质谱法进行待测样品的同位素比值测量时一般遵从以下原则：—校正样品与待测元素的同位素核素质量一致；

—校正样品的同位素比值与待测比值一致或相近似；

—校正样品和待测样品在基体、浓度等方面一致；

—测量顺序为校正样品一待测样品—