高度计基础知识.docx

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一、产品概述

中图公司研发生产的SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准,遵循阿贝原则,按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成,因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。

SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域,对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。

二、结构原理

本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。

SJ200系列高度计采用高精度光栅,即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准,所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感,并具有确定的稳定特性。

增量光栅尺的扫描方法为光电扫描,因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距,从而确保一个信号周期内微小位置误差。

三、性能特点

测量精度高(高精度进口光栅、高精度导轨);

可靠性好(经过10万次重复性实验);

检测速度快:快速检测、示值稳定;

校准方便;

采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小;

应用广泛,自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。

四、SJ217高度计

中图SJ217高度计,测量系统由测头、数显装置SJ101和陶瓷台架组成。系统量程范围为0~50mm,测量精度高。可用于精密零件质量控制和计量等领域。配专用指示表检定软件。

SJ217高度计技术参数

SJ217

测量范围

(0~50)mm

50mm测头+SJ101+陶瓷台架+软件

测量基准

进口高精度增量式光栅

精度(20℃)

0.4μm

重复性

优于0.1μm

分辨力测量力测量速度

驱动系统测头

外部输出显示单位切换输入电压

功能

0.01μm

垂直方向:1.25N-1.75N;水平方向:0.75N-1.15N小于7.2m/s

被测物驱动,弹簧复位

硬质合金球形测头(可选配平面测头、针形测头、偏心测头等)

RS-232

4.3寸触摸屏

mm/inchAC100V~240V50Hz~60Hz

数据存储/数据校准/自动归零/预设值,

配专用指示表检定仪检定软件

五、SJ207高度计中图SJ207

五、SJ207高度计

中图SJ207高度计,测量系统由测头、数显装置

SJ102和陶瓷台架组成。系统测量精度高,量程为

0~50mm。

SJ207高度计技术参数:

SJ207

测量范围

(0~50)mm

50mm测头+SJ102+陶瓷台架

测量基准

进口高精度增量式光栅

精度(20℃)

重复性分辨力测量速度

1μm

优于0.2μm

0.1μm、0.5μm、1μm可切换小于7.2m/s

测量力驱动系统测量测头显示单位切换输入电压功能工作温度

(1~1.4)N

被测物驱动,弹簧复位

硬质合金球形测头(可选配平面测头、针形测头、偏心测头

8位LED

mm/inch

DC12V,配专用适配器自动归零/数据校准

(0~40)℃,标准温度20℃

中图公司的SJ228高度计由测头、数显装置

中图公司的SJ228高度计由测头、数显装置SJ101及陶瓷台架组成,测量范围大、测量精度高。

SJ228高度计的测量杆由内部电机控制伸出和缩回。可连接按键盒,通过按键盒的控制信号控制电机驱动。亦可配置电脑软件,具有强大的测量及数据管理功能。

SJ228高度计技术参数:

SJ228

测量范围

(0~100)mm

100mm测头+SJ101+陶瓷台架+按键盒+软件

测量基准

进口高精度增量式光栅

示值误差

重复性

(0.2+L/1000)μm

优于0.1μm

分辨力0.01

分辨力

0.01μm

测量速度

探测速度1~5mm/s可调

测量力

1.5N

驱动系统

电机驱动

测量测头

硬质合金球形测头(可选配平面测头、针形测头、偏心测

4.3寸触摸屏或PC

单位切换

mm/inch

输入电压

AC100V~240V50Hz~60Hz

具有强大的测量及数据管理功能

工作温度

(20±0.5)℃

七、配置说明

数显装置SJ101

SJ101

SJ101采用真彩色4.3英寸TFT液晶显示,用于与SJ200系列高度计进行配套使用。系统采用CPLD高速信号采集处理电路,保证数据的稳定可靠。简单易用的全触控操作方式,支持数据存储、

功能特点:

1、高速信号采集处理,数据稳定可靠;

2、

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