AAS中校正曲线弯曲的原因分析.ppt

AAS中校正曲线弯曲的原因分析原子吸收光谱基本原理介绍原子吸收光谱分析又称原子吸收分光光度分析，是基于物质所产生的原子蒸气对特征谱线（通常是待测元素的特征谱线）的吸收作用来进行定量分析的一种方法，由光源发射出一定强度和一定波长的特征谱线的光，通过含有待测元素基态原子的蒸气时，其中部分特征谱线的光被吸收，而未被吸收的光经过单色器分光后被光电检测器检测，根据特征谱线被吸收的程度即可测得试样中待测元素的含量。特征谱线的吸收程度用朗伯-比尔定律表示：式中:A为吸光度，k为吸收系数，L为原子蒸气厚度，实验中为定值，为待测原子的基态原子数，由于其在原子蒸气中占绝大多数，因此可用代表吸收层中的原子总数。当原子化效率一定时，待测元素吸收层中的原子总数与待测元素的浓度C成正比，即：式中在一定实验条件下是常数，因此吸光度与浓度成正比，可用于定量分析。AAS定量分析方法常用的是标准曲线法。

配置一组适合的标准溶液，有低浓度到高浓度，依次喷入火焰，分别测定其吸光度A，以测得的吸光度为纵坐标，待测的含量或浓度为横坐标，绘制A-c标准曲线。在相同的实验条件下，喷入待测试液溶液，根据测得的吸光度，由标准曲线求出试样中待测元素的含量。然而，在实际分析中常会出现标准曲线弯曲的现象，了解其弯曲的原因及校正方法，能够提高分析的灵敏度。AAS校正曲线弯曲的原因横轴谱线展宽效应待测物浓度偏高纵轴化学干扰电离干扰光谱干扰双向：物理干扰背景干扰谱线展宽效应原子吸收谱线是有一定宽度的轮廓线，除了无外界影响下的自然宽度外，所有原子的光谱都会发生展宽效应，谱线变宽，中心频率位移（发射线与吸收线产生错位）、形状和宽度发生不对称，使得吸收变少，吸光度降低，从而使灵敏度下降，使得校正曲线向横轴弯曲。A、多普勒变宽（热变宽）与原子在空间做无规则热运动有关,中心频率无位移，只是两侧对称变宽，值变小。B、压力变宽吸光原子与蒸气中分子或原子间的相互碰撞引起，起主要作用的是劳伦兹变宽（待测元素原子与不同原子间的碰撞引起），它引起谱线轮廓的变宽、漂移和不对称。除此之外，场致变宽、自吸效应等也会影响谱线变宽。待测液浓度较高时的影响当待测元素的含量较高时，吸收线的变宽除考虑前述的展宽效应外，还要考虑压力变宽中的共振展宽，当分析原子浓度较大时，谱线共振展宽效应增大，导致峰值吸收相应的减少，结果标准曲线向浓度坐标弯曲。化学干扰：选择性干扰待测元素与其他组分发生化学反应所引起，主要影响待测元素的原子化效率。-待测元素与共存元素生成热力学更稳定的化合物，是参与吸收的基态原子数减少而引进负干扰。-自由基态原子自发地与其他原子或基团反应生成氧化物、氢氧化物、氮化物和碳化物而降低原子化效率。-与卤素形成易挥发物而在灰化过程中损失。一般情况下随温度增加而减弱。消除化学干扰的方法：加入某些试剂（释放剂、保护剂、缓冲剂等）选择性化学分离（溶剂萃取，离子交换、吸附和沉淀分离）更换原子化条件（高温焰、富燃焰、观测高度、石墨炉条件优化）电离干扰原因：电离电位较低元素容易在火焰中电离，使参与的基态原子数减少，导致吸光度下降。原子化温度越高，自由原子的电离度就越大，电离干扰就越严重，电离干扰还与原子化器中待测原子的总浓度有关，总浓度增加，电离度减小，单位浓度待测元素产生的吸光度值增大。因此，存在电离干扰时，使得校正曲线向纵轴弯曲。校正方法：1、使用低温贫瘠火焰2、加消电离剂3、采用标准加入法光谱干扰

1、与分析线相邻的是待测元素的谱线如果在光谱通带内存在光源的几条发射线，而且被测元素都有吸收，这时便产生光谱干扰。每一条吸收线具有不同的吸收系数，所测得的吸光度是每个独立成分贡献的结果，而且其他组分的吸收系数小于主吸收线的吸收系数故测得的吸光度小于仅有单一主吸收线时测得的吸光度，从而使灵敏度下降，标准曲线向横轴弯曲。可通过减小狭缝宽度来克服这种干扰，当波长差很小，减小狭缝仍难消除干扰时需另选分析线。光谱干扰2、光谱通带内存在非待测元素的谱线产生原因：a、具有复杂光谱的元素发射出单色器难以完全分开的谱线。b、多元素空心阴极灯因发射线复杂而存在非吸收线干扰。c、光源阴极材料中的杂质和填充的惰性气体的辐射线引起非吸收线干扰。如果此谱线不被吸收，使测得的吸光度偏小，校正曲线向横轴弯曲。如果被非待测元素吸收，则产生“假吸收”，校正曲线向纵轴弯曲。克服这种干扰的常用方法是减小狭缝宽度，以分离掉非吸收线，但使信噪比变坏，这是可改用其他吸收线。光谱干扰3、谱线重叠的干扰火焰中有两种以上原子的吸收线与光源的发射线重叠时产生邻近线干扰，使测定结果偏高。当分析元素的吸收线与共存元素的