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JJF1485—2014

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圆度定标块校准规范

1范围

本规范适用于弦高标称值为(1～50)μm圆度定标块(以下简称定标块)的校准。

2引用文件

本规范引用了下列文件：

GB/T7234—2004产品几何量技术规范(GPS)圆度测量术语、定义及参数

GB/T7235—2004产品几何量技术规范(GPS)评定圆度误差的方法半径变

化量测量

GB/T26098—2010圆度测量仪

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修订单)适用于本规范。

3概述

定标块是一个在圆度误差和表面粗糙度都很小的外圆柱表面上，加工出一个与圆柱轴线平行的小平面的标准器。小平面在圆柱体径向截面上的弦高值F即为定标块的弦高值。定标块用于校准和检测仪器放大倍率等参数。

典型定标块的结构见图1。

A—A

图1定标块结构示意图

4计量特性

4.1定标块的表面粗糙度

定标块测量面的表面粗糙度Ra一般不大于0.05μm。

4.2定标块的圆度

定标块的圆度误差一般不大于0.10μm。

4.3定标块的弦高值

定标块弦高值的测量不确定度一般为5%～2%。

注：以上指标不是用于合格性判别，仅供参考。

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5校准条件

5.1环境条件

5.1.1温度条件：温度条件应根据被校定标块的测量不确定度要求确定。推荐的最低要求为实验室内温度为(20±1)℃,其变化不应超过0.5℃/h,定标块及校准用设备在室内平衡温度的时间不少于12h。

5.1.2相对湿度：实验室内的相对湿度不大于65%。

5.1.3实验室内应无影响测量的噪音、振动和磁场。

5.2测量标准及其他设备

推荐使用表1所列测量标准及设备标准器，允许使用满足不确定度要求的其他测量标准及其他设备进行校准。

表1测量标准及其他设备

序号

校准项目

设备名称

技术要求

1

定标块的表面粗糙度

表面粗糙度测量仪

MPE:±(2%～5%)

表面粗糙度比较样块

MPE:+12%～-17%

2

定标块的圆度

圆度仪

主轴径向跳动：0.03μm

3

定标块的弦高值

5.3其他条件

定标块的表面不应有锈蚀、划伤、碰伤等缺陷。定标块底座应平稳，主体与底座联接应稳定牢固，不应有松动、相对转动等现象。

6校准项目和校准方法

首先检查外观和各部分相互作用，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。

6.1定标块的表面粗糙度

定标块的表面粗糙度用表面粗糙度测量仪进行测量。在规定区域圆弧面上与小平面上分别测量，取最大值作为测量结果。

也可以采用表面粗糙度样块比较测量。

有争议时应以表面粗糙度测量仪进行测量。

6.2定标块的圆度

定标块的圆度误差用圆度仪进行测量，测量时在定标块规定区域的中截面处进行，圆度误差的评定应去除小平面部分。

将圆度仪通电预热至少15min(或按仪器说明书的规定对仪器进行通电预热和仪器状态调整),采用高斯滤波器，滤波器范围选择“(1～50)波/转”挡，测杆选用“标准测杆”,受力方向选择“外侧”,测力选择“中等测力”,放大倍数选择“低倍”挡。

将定标块置于圆度仪工作台中心，使测头与定标块中截面相接触，放大倍数选择由低至高，调整定标块与仪器回转中心同轴。测量时，先让主轴空转3圈，再开始测量并记录数据。以最小包容区域法或最小二乘法评定其圆度误差。

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6.3定标块的弦高值

定标块的弦高值用圆度仪进行测量，测量时在定标块规定区域的中截面处进行。

将定标块置于圆度仪工作台中心，使测头与定标块中截面相接触，放大倍数选择由低至高，调整定标块与仪器回转中心同轴。测量时，先让主轴空转3圈，再开始测量并记录数据。采用高斯滤波器，滤波器范围选择“(1～500)波/转”挡，放大倍数根据相应的弦高值选取，以最小外接圆法评定其圆度误差，并以测量得到的圆度误差值Ront作为定标块的弦高值F,见公式(1)。

F=Ront(1)

式中：

F——弦高值，μm

Ront——圆度误差值，μm。

7校准结果表达

经过校准的定标块发给校准证书，一般情况下，校准结果至少应给出定标块弦高值的测量结果、评定方法及测量不确定度。校准证书的内容及内页格式见附录B。

8复校时间间隔

由于复校时间间隔的长短是由定标块的使用情况、使用者、定标块本身质量等诸因素所决定的，因此送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。建议复校时间间隔一般不超