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作业指导书

高度卡尺检定装置

文件编号

版本号

第1版

页数

共4页

1范围

用于测量范围在（0-1000）mm的各种规格的游标、带表和数显卡尺的首次检定、后续检定和使用中检查。

2技术依据

JJG31-2011《高度卡尺》

3技术要求和检定条件

3.1检定温度：（20±5）℃

3.2相对湿度：不超过80%RH

3.3检定前，将被检高度卡尺及量块等检定用设备同时置于平板上，其平衡温度时间不少于2小时。

4使用的仪器设备

名称

测量范围

不确定度或准确度等级

量块

（10～291.8）mm

五等

量块

（125～500）mm

五等

塞尺

（0.02～1.00）mm

MPE：±12μm

表面粗糙度样块

Ra（0.8～0.1）μm

MPE：+12%～-17%

刀形样板平尺

（0～175）mm

MPEV：2μm

平板

(400×300)mm

1级

万能工具显微镜

/

MPEV：2μm

5检定前准备

5.1检查所使用的标准及配套设备是否在检定/校准证书有效期。如不在有效期内，则一律不准使用，应及时与业务室联系，查明原因。

5.2检定规程要求实验室内温度保持(20±5)℃，湿度＜80%，查看实验室内温湿度和其他条件是否满足要求。

5.3检定前，戴上手套，用酒精清洗高度卡尺测量面，然后将被检高度卡