（正式版）-B-T 42968.1-2023 集成电路电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义.docxVIP

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准GB/T42968.1—2023/IEC62132-1:2015

集成电路电磁抗扰度测量

第1部分：通用条件和定义

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part1:Generalconditionsanddefinitions

(IEC62132-1:2015,IDT)

2023-09-07发布

2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会

发布

GB/T42968.1—2023/IEC62132-1:2015

目次

前言 Ⅲ

引言 IV

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4试验条件 4

4.1通则 4

4.2环境条件 4

4.3试验发生器 4

4.4频率范围 5

5试验设备 5

5.1概述 5

5.2屏蔽 5

5.3试验发生器和功率放大器 5

5.4其他组件 5

6试验布置 5

6.1通则 5

6.2试验电路板 5

6.3引脚选择方案 6

6.4IC引脚负载/终端 6

6.5电源的要求 6

6.6IC的特殊要求 7

6.7IC时间稳定性 7

7试验程序 7

7.1监测检查 7

7.2人体暴露 7

7.3系统验证 7

7.4特殊程序 8

8试验报告 9

8.1通则 9

8.2抗扰度限值或等级 9

8.3IC性能分级 9

8.4试验结果的说明 10

1

lⅡ

GB/T42968.1—2023/IEC62132-1:2015

附录A(资料性)试验方法比较 11

附录B(资料性)通用试验板的描述 13

参考文献 16

Ⅲ

GB/T42968.1—2023/IEC62132-1:2015

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件是GB/T42968《集成电路电磁抗扰度测量》的第1部分。GB/T42968已经发布了以下

部分：

——第1部分：通用条件和定义；

——第8部分：辐射抗扰度测量IC带状线法。

本文件等同采用IEC62132-1:2015《集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义》。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动：

将仅在资料性附录中引用的文件IEC62132-2、IEC62132-5、IEC62132-8、IEC/TS62132-9由

第2章调至参考文献；

——用GB/T42968.8替换了资料性引用的IEC62132-8。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。

本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、北京无线电计量测试研究所、上海市计量测试技术研究院、中国家用电器研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、东南大学、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、南京信息工程大学、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、厦门海诺达科学仪器有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、郑州新基业汽车电子有限公司、北京邮电大学、南京容向测试设备有限公司、上海电器设备检测所有限公司、中国电子科技集团公司

第三十二研究所。

本文件主要起草人：崔强、付君、乔彦彬、郑益民、方文啸、吴建飞、叶畅、李楠、朱赛、杨红波、刘星汛、李金龙、张艳艳、白云、周香、刘小军、黄雪梅、陈燕宁、邵鄂、万发雨、臧琦、刘佳、梁吉明、胡小军、郭文明、

张金玲、邢立文、张青青、张先利、陈梅双。

IV

GB/T42968.1—2023/IEC6