电磁学测量仪及其测试方法.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN1529296A

(43)申请公布日2004.09.15

(21)申请号CX

(22)申请日2003.09.27

(71)申请人四川大学

地址610065四川省成都市磨子桥

(72)发明人叶瑞英

(74)专利代理机构成都科海专利事务有限责任公司

代理人邓继轩

(51)Int.CI

G09B23/18

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

电磁学测量仪及其测试方法

(57)摘要

一种电磁学测量仪及其测试方法，

其特点在于该测量仪由刀口支承座与刀口

装置、框架与平衡装置、阻尼装置、读数

装置、直流电源装置和底板与布线装置，

通过连接件和电源控制电路连接构成电磁

学测量仪整体。该仪器可以准确测定电磁

力F、验证安培定律，测量空间磁导率μ

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1、电磁学测量仪，其特征在于该测量仪由刀口支承座与刀口装置、框架与平衡装

置、阻尼装置、读数装置、直流电源装置和底板与布线装置，通过连接件和电源控

制电路连接构成电磁学测量仪整体。

2、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于刀口支承座与刀口装置由横梁

(1)、刀口(2)、刀口支承座(3)组成，两个支承座(3)分别装设在立柱的顶端，立柱上

的升降杆(11)能自由升降，以调节刀口平衡，刀口(2)通过中心孔连接在横梁下面的

刀口槽内，能承受5～10A的大电流。

3、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于框架与平衡装置由上方杆(10)、

下方杆(12)、水平平衡锤(6)、竖直平衡锤(9)以及反射镜(7)组成，上方杆的受力边

ab中央设砝码盘(15)，其臂通过连接件螺母装配在横梁(1)的前方，旋转升降螺钉

(16)能调节cd位置，使上方杆和下方杆的受力臂ab与cd上下对齐，水平平衡锤(6)

和竖直平衡锤(9)分别套旋在水平杆(4)和竖直杆(5)上，水平锤(6)决定框架的平衡位

置和反射镜(7)的仰角，竖直平衡锤(9)可改变框架振动周期。

4、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于阻尼装置由阻尼线圈(8)组成，

阻尼线圈设在水平杆(4)的前端，并夹装厚度为0.1～0.2cm的铜片，在其左右两侧

装上一对厚度为0.1～0.2cm的磁片，以产生磁阻尼。

5、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于读数装置采用光杠杆，光杠杆

由横梁(1)上的反射镜(7)、刻度尺(13)和读数显微镜(14)组成，主要作用是测量上、

下方杆之间的距离。

6、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于直流电源装置采用实验室的大

电流直流电源，要求提供5～10A的直流电。

7、按照权利要求1所述电磁学测量仪，其特征在于底板与布线装置，底板用绝缘

材料制作，底板下设地脚螺栓以调节水平，板面上设立柱起支承作用，立柱中心打

有小孔并装设有导线，导线与ab和cd杆成直角连接，通过接线柱向外引出，仪器

的布线均设在底板下面。

8、按照权利要求1～7所述电磁学测量仪的测试方法，其特征在于：

(1)测试平行载流导线之间的相互作用力

a.采用电路连接仪器，

b.将双掷开关拨到左边，使上、下方杆通以相反方向电流，观察上、下方杆远离的

现象，

c.将双掷开关拔到右边，使上、下方杆通以相同方向的电流，观察上、下方杆发生

移动而相互靠近的现象，

(2)测试F-B、F-I关系，验证安培定律

a.采用电路连接好仪器，

b.使上方杆电流保持不变，改变下方杆电流值，依次在砝码盘增加5mg砝码，记下

此时的电流I，改变下方杆电流即改变了磁感应强度B，将测得数据列入表1中，

作出F-B曲线，曲线为过原点直线，验证了F∝B，

c.使下方杆的电流保持不变，即保持B不变，改变上方杆中的