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- 2024-07-02 发布于江苏
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1927年,美国科学家戴维逊和革末将电子射向镍单晶表面,结果发现被散射的电子束在某些角度上的分布出现了极大值。这种情况类似于X射线在晶体中的衍射,证实了电子的波动性。戴维孙所用的电子衍射管电子枪KD之间有加速电压U电子束透过D打在镍晶M上它在晶面被散射进入探测器B检流计G检测电子束(电流)的强度加速电压U=54V,散射角φ=50o时,探测器B中的电流有极大值.检测器电子被镍晶体衍射实验MKBD电子枪散射束电子束镍单晶探测器电子束在单晶晶体上反射的实验结果符合X射线衍射中的布拉格公式是入射波束与晶格平面之间的夹角是两邻近平面的距离,等于0.91埃实验中测量了散射电子强度随散射角变化的函数关系当加速电压U=54V时,探测器在散射角?=50°方向上有一个明显的峰值?=50°时,θ=(180-50)/2=65°λ=2dsinθ=2×0.091nm×sin65°=0.165nm电子束透过多晶铝箔的衍射KX射线电子束约恩逊实验的基本数据:每个缝宽a=0.3μm,缝间距d=1μm电子加速电压V=50kV,电子的波长λ=0.5nm世界十大最美丽的实验之榜首1989年,日立公司科学家A.TONOMURA让电子一个一个通过双棱镜,观察到真
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