【英/法语版】国际标准 IEC 60191-2Y:2000 EN-FR 第二十三补充-半导体器件的机械标准化-第2部分：尺寸 Twenty-third supplement - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions.pdf

以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。

IEC60191-2Y:2000EN-FR是关于半导体设备的机械标准化的第二部分：尺寸的补充二十三。

IEC60191-2Y标准是国际电工委员会（IEC）制定的一系列标准之一，旨在为半导体设备的机械标准化提供规范。该标准提供了半导体设备的尺寸标准，包括但不限于芯片封装、连接器、外壳、引脚、支架、连接件、基板和测试探针等部件的尺寸和公差。

该标准分为多个部分，其中第二部分专门针对尺寸标准。该部分提供了半导体设备的基本尺寸和公差要求，包括芯片的外形尺寸、引脚间距、基板厚度、连接器尺寸等。该标准还规定了用于制造和测试半导体设备的工具和设备的尺寸和公差要求。

补充二十三专门针对半导体设备的机械标准化中的机械标准化进行了详细的规定和说明，包括但不限于设备部件的连接方式、固定方式、装配顺序、测试方法和环境要求等。

IEC60191-2Y标准是半导体设备制造和测试中非常重要的标准之一，规定了半导体设备的尺寸和公差要求，以确保设备的质量和可靠性。该标准的使用对于半导体产业的可持续发展和全球化具有重要意义。