【英/法语版】国际标准 IEC 60191-3:1999 EN-FR 半导体器件的机械标准化——第3部分：集成电路轮廓图的制备通用规则 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits.pdf

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IEC60191-3:1999是国际电工委员会（IEC）制定的半导体设备机械标准化第3部分：集成电路概要图制备的一般规则。

IEC60191-3:1999标准主要涵盖了集成电路概要图的绘制要求和标准。以下是对该标准的详细解释：

1.集成电路概要图：这是指对集成电路的总体结构、功能和制造工艺的图形表示。概要图通常用于生产过程中的质量控制和设计验证。

2.标准化的重要性：标准化有助于确保半导体设备的互换性和可靠性，同时也便于生产、销售和贸易。

3.绘制规则：根据IEC60191-3:1999标准，概要图的绘制应遵循一系列规则，包括但不限于：图形清晰、准确、易于理解；符合制造工艺和设计要求；标注必要的尺寸、公差和注释等。

4.适用范围：该标准适用于各种类型的集成电路，包括但不限于微处理器、存储器、逻辑电路、模拟电路等。

5.准备概要图的过程：根据IEC60191-3:1999标准，概要图的准备过程包括设计、制造、审核和批准等步骤，以确保其符合标准要求。

IEC60191-3:1999标准是半导体设备制造过程中的重要标准，它规定了集成电路概要图的绘制规则和标准，以确保其质量和可靠性。