【英/法语版】国际标准 IEC 61967-1:2002 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions 集成电路 - 电磁辐射发射的测量, 150 kHz至1 GHz - 第1部分:一般条件和定义.pdf

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IEC61967-1:2002EN-FR集成电路-电磁辐射的测量，150kHz至1GHz-第1部分：一般条件和定义是国际电工委员会（IEC）制定的一项标准，用于测量电子设备中产生的电磁辐射。该标准主要用于评估电子设备在高频范围内的电磁辐射水平，特别是在150kHz至1GHz的频率范围内。它适用于各种类型的集成电路，包括但不限于微处理器、微控制器、内存芯片、通信芯片等。

该标准的主要目的是确保电子设备在正常工作条件下产生的电磁辐射不会对人类或其他设备造成有害影响。它提供了评估电磁辐射的各种测量方法和标准化的术语和定义，以便在不同机构之间进行比较和沟通。

IEC61967-1:2002标准涉及的主要内容包括电磁辐射的测量方法、测量设备的选择、测试场地和环境的设置、测量数据的记录和分析、以及结果的解释和应用。该标准还涉及到电磁辐射的限值和标准，以确保电子设备的电磁辐射不会超过可接受的水平。

IEC61967-1:2002EN-FR标准是用于评估和规范电子设备电磁辐射的重要工具，以确保它们在安全和合规的范围内运行。