【英/法语版】国际标准 IEC 61967-1:2018 EN-FR 集成电路 - 电磁辐射的测量 - 第1部分：一般条件和定义 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions.pdf

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IEC61967-1:2018EN-FR集成电路-电磁辐射测量-第1部分：一般条件和定义是国际电工委员会（IEC）制定的标准，用于测量电子设备产生的电磁辐射。这个标准规定了电磁辐射测量的通用准则和术语定义。以下是该标准的详细解释：

1.**适用范围**：该标准适用于各种类型的集成电路和微电子组件，包括但不限于微处理器、微控制器、存储器、接口芯片等。它适用于测量这些设备在正常工作条件下产生的电磁辐射。

2.**定义**：标准中定义了一系列术语，包括电磁辐射、电磁干扰（EMI）、射频干扰（RFI）、传导发射和辐射发射等。这些术语用于描述设备产生的各种形式的电磁能量。

3.**测量条件**：标准规定了测量电磁辐射的各种环境条件，包括测试室的尺寸、墙壁和地板的材料、测试设备的接地等。这些条件旨在减少外部电磁干扰对测试结果的影响。

4.**测量方法**：标准详细说明了测量电磁辐射的各种方法，包括使用测量探头、滤波器、屏蔽罩等设备来减少干扰。它还提供了关于如何收集、分析和报告测量数据的方法。

5.**测量频率范围**：该标准规定了测量电磁辐射的频率范围，通常在数十赫兹到数百万赫兹之间。这涵盖了大部分电子设备的正常工作频率。

6.**合规性**：如果制造商想证明其产品符合相关电磁辐射标准和法规，他们需要使用符合IEC61967-1:2018EN-FR标准的方法和设备进行测量。

7.**限制和标准**：标准规定了电磁辐射的限制值，以确保设备和系统的电磁兼容性。这些限制可能基于设备的类型、功率、工作频率等因素。

IEC61967-1:2018EN-FR标准为测量电子设备产生的电磁辐射提供了详细的指南和定义，以确保设备和系统的安全性和可靠性。