【英/法语版】国际标准 IEC 61967-4:2002 EN-FR 集成电路 - 电磁辐射的测量, 150 kHz至1 GHz - 第4部分: 传导辐射的测量, 1欧姆/150欧姆直接耦合方法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupl.pdf

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IEC61967-4:2002EN-FR集成电路-电磁辐射测量,150kHz至1GHz-第4部分:带电排放的测量,1ohm/150ohm直接耦合方法（IEMI方法）是一套在高频条件下测试电路的电磁辐射和传导排放的严格的标准和方法。这项测试使用1ohm/150ohm的阻抗网络，用以产生低到设备最大输入阻抗的有效接地耦合效应。这项技术尤其被用来测试大规模和微电子组件设备等在高频率工作状态下产生的辐射效应。这种标准广泛应用于评估电子设备的电磁辐射特性，对于电子设备的安全性和电磁兼容性有重要影响。此方法也可以用来评估设备可能对周围环境造成的电磁干扰（EMI）和电磁耐受性（EMS）。这种方法能够测量并量化电路在工作状态下的电场强度和磁场强度，这些因素都会影响设备的电磁辐射。需要注意的是，这种测量方法需要在特定的实验室环境中进行，并且需要专业的技术人员进行操作，以确保测试结果的准确性和可靠性。