SJ_T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序.docx

ICS

CCS

31.200

L55

中华人民共和国电子行业标准

SJ/T11875—2022

电动汽车用半导体集成电路应力试验程序

Stresstestprocedureforsemiconductorintegratedcircuitinelectricvehicle

2022-10-20发布2023-01-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

I

SJ/T11875—2022

目次

前言 III

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

Ⅲ

SJ/T11875—2022

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

本文件附录A、附录B、附录C、附录D为规范性附录。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由工业和信息化部电子第四研究院归口。

业应用联盟。

SJ/T11875—2022

电动汽车用半导体集成电路应力试验程序

1范围

本文件描述了电动汽车用半导体集成电路(以下简称器件)的分级及最低应力试验程序(用于应力

的试验项目，并综合考虑以下内容：

a)任何潜在新颖的和特有的失效机理；

b)任何使用中不会发生但试验程序或条件本身可能会导致失效的情况；

c)任何极端使用或过度应力条件导致试验加速应力降低的情况。

4.2工作温度等级

器件工作温度等级规定如下：

a)0等级：工作环境温度范围-40℃~150℃;

b)1等级：工作环境温度范围-40℃~125℃;

2

SJ/T11875—2022

c)2等级：工作环境温度范围-40℃~105℃;

d)3等级：工作环境温度范围-40℃~85℃;

e)4等级：工作环境温度范围0℃~70℃。

4.3通用数据/结构相似性使用原则

4.3.1通用数据

提倡使用通用数据简化检验方案，包括减少试验项目、降低抽样数量等，附录A给出了结构相似性的判定准则和使用程序，符合判定准则的一系列器件形成具有结构相似性的器件组，该器件组内所有型号器件的数据组成通用数据，并可用于后续器件的试验评价。在制定检验方案时，只要证明技术合理(试验数据足以支撑),可采用两个或更多的器件组共同完成检验。如果通用数据包含任何已发现或可预期的产品失效，该数据就不能继续作为通用数据使用，除非供应商能证明针对失效采取了纠正措施并实施有效，而且已经得到用户的批准。

4.3.2通用数据的使用

通过使用通用数据，可以积累器件组内通用的可靠性数据信息。这些信息能够用来描述一个器件组的通用可靠性，并减少组内具体型号器件的试验项目。使用通用数据时应遵循以下的原则：使用最大包络参数器件进行试验或测试，例如“最大范围(四角)”系列(如最高/最低电压，最大/最小产品体积等),则该组内后续可纳入该范围的具有结构相似性的器件可使用这些数据。有效的通用数据应来自具备相应资质或经认可的试验机构或实验室，也可来自供应商内部试验或测试(需经过评估),基本结构或标准单元的特性分析、试验或测试，用户特定试验或测试，以及供应商在线过程监控。

在制定具体型号的检验方案时，所提交的通用数据必须达到或严于规定温度等级要求的试验条件。且至少对一个批次的产品完成电测试，电测试温度必须覆盖产品工作温度等级所规定的温度范围。若检验方案采用通用数据对一个批次器件进行试验，试验出现失效，则该批次器件判为不合格。而当不采用通用数据时，需要对三个批次器件进行试验，试验出现失效，则该三个批次器件均判为不合格。用户有权利批准是否接受通用数据来代替实际试验。

4.3.3使用通用数据完成试验的批次要求

使用通用数据完成检验的批次要求如表1所示。

表1试验批次要求

器件信息

检验批次要求

新器件，无适用的通用数据

按表2规定的批次和样品要求

试验合格器件组覆盖范围内的新器件。新器件结构比已通过检验且合格的器件简单，满足附录A的结构相似性规定

仅进行4.2规定的器件特定试验。对需要开展的试验项目按表2规定的批次和抽样要求

有部分通用数据的新器件

按附录A确定表2中要求的试验项目。批次和抽样要求按表2的规定

器件工艺更改

按表3规定评估并确定表2中要求的试验项目。批次和抽样要求按表2的规定

按器件规定温度等级要求完成试验，但终点电测试未达到相应等级要求的极限范围

至少完成一个批次器件的的终点电测试(样品必须是已完成相应温度等级环境试验的器件