【英/法语版】国际标准 IEC 62132-1:2006 EN-FR 集成电路 - 电磁抗扰度测量, 150 kHz至1 GHz - 第1部分:一般条件和定义 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions.pdf

IEC62132-1:2006EN-FR集成电路-电磁抗扰度测量，150kHz至1GHz-第1部分：一般条件和定义（IEC62132-1:2006）是一套国际标准，专门针对电子设备的电磁抗扰度进行测量和评估。它提供了评估设备在受到电磁噪声影响时的性能的标准方法。该标准主要关注在高频范围内的电磁干扰（EMI），特别是在150kHz至1GHz的频率范围内。

IEC62132-1:2006标准的主要组成部分包括：

1.电磁抗扰度测量：这是评估设备对电磁噪声的抵抗能力的方法。它包括测量设备在各种电磁噪声条件下的反应，如电场、磁场和射频干扰等。

2.定义：该标准提供了用于评估电磁抗扰度的基本术语和定义，如电磁噪声、电磁抗扰度、传导抗扰度、放射抗扰度、耦合路径等。

这个标准适用于各种电子设备，包括但不限于微处理器、通信设备、自动化系统、医疗设备、航空电子设备等。在产品开发过程中，该标准可以帮助制造商确保他们的产品在现实世界环境中能够正常工作，而不会受到电磁噪声的影响。

总结来说，IEC62132-1:2006EN-FR标准提供了评估电子设备电磁抗扰度的通用方法和标准，适用于各种类型的电子设备。它涵盖了从理论定义到实际测量方法的全面内容，为制造商提供了重要的指导以确保产品的可靠性和稳定性。