【英/法语版】国际标准 IEC 62132-1:2015 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions 集成电路——电磁辐射抗扰度测量——第1部分：一般条件和定义.pdf

IEC62132-1:2015EN-FR“集成电路-电磁抗干扰度测量-第1部分：一般条件和定义”是一个国际电工委员会（IEC）的标准，专门用于评估电子设备的电磁抗干扰性能。这个标准提供了详细的测试方法和标准，以衡量电子设备在各种电磁环境下的性能表现。它特别关注设备在受到电磁噪声、射频干扰、闪电和其他电磁现象影响时的表现。

IEC62132标准分为几个部分，其中第1部分是最重要的一部分，它提供了电磁抗干扰测试的一般条件和定义。这个标准主要关注设备的电磁辐射、电快速瞬变脉冲群（EFT）、浪涌（Surge）、静电放电（ESD）和射频场感应的电磁辐射（RFI）等抗干扰性能。

IEC62132-1标准中的定义是非常重要的，因为它们为测试提供了基础。例如，电磁辐射包括来自各种源的电磁能量，如闪电、无线电广播、电视、微波和其他电子设备产生的辐射。电快速瞬变脉冲群是指电压或电流瞬时跳变的电磁干扰，经常出现在电源线或信号线上。浪涌是指突然的、强烈的电磁干扰，可能对电子设备造成严重的破坏。静电放电是指带电物体在摩擦过程中释放的静电对设备造成的干扰。射频场感应的电磁辐射则是指来自无线电信号的电磁辐射。

在进行电磁抗干扰测试时，设备需要满足一系列的条件和要求。这些条件和要求在IEC62132-1标准中都有详细的规定。例如，测试设备需要有一个模拟实际环境的电磁环境，测试需要在特定的时间间隔和频率下进行，测试结果需要被记录和分析等等。

IEC62132-1:2015EN-FR标准是一个非常重要的标准，它为评估电子设备的电磁抗干扰性能提供了详细的测试方法和标准。对于电子设备制造商和用户来说，理解和遵守这个标准是非常重要的。