【英语版】国际标准 IEC TS 63342:2022 EN C-Si光伏（PV）模块-光照和高温引发的降解（LETID）测试-检测 C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection.pdf

IECTS63342:2022标准，主要规定了光伏组件（C-Si光伏组件）在暴露于高温和光照下的检测标准，以评估其性能的退化情况。该标准中的LETID测试是指“光照和温度升高导致的性能退化检测”。这个测试旨在检测光伏组件在长期暴露于光照和高温环境中的性能变化，特别是对组件的输出功率、电压和电流的影响。该测试通过模拟实际使用中的高温和光照条件，评估组件在恶劣环境下的性能表现。

在LETID测试中，光伏组件被置于一个模拟阳光照射的环境中，并暴露在高温度下。测试期间，定期测量组件的输出功率、电压和电流等参数。通过比较测试前后的数据，可以评估组件在高温和光照下的性能退化情况。如果发现性能退化明显，则可能表明组件的质量存在问题或者在长期使用中可能面临性能下降的风险。

该标准还规定了LETID测试中的一些关键参数和要求，如测试环境条件、测试周期、测量精度等。这些要求旨在确保测试结果的准确性和可靠性，从而为光伏组件的质量评估提供依据。IECTS63342:2022标准中的LETID测试是用于评估光伏组件在高温和光照下的性能退化情况的重要检测方法。