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日立八7
HITACHI
日立SU8020冷场发射扫描电镜
基础原理和应用介绍
天美(中国)科学仪器有限公司
应用工程师:高敞
2019年5月20日
HitachiHigh-TechnologiesCorporation
主要内容
日立小
、日立SU8020的工作原理
二、且立SU8020的操作和应用
1、SEM的结构
1、样品制备
2、SE和BSE信号
2、扫描电镜最基本的操作
3、分辨率及影响因素
!3、参数选择;Vac,W,SED
4、E×B技术
4、荷电现象
5、信号控制系统
5、“污染”现象
6、维护和保养
6、样品损伤
7、减速模式
1.扫描电镜的结构
日立小
电子枪
离子泵
聚光器
监视器
电子束偏转增幅器
偏转线圈
偏转线圈
物镜
二次电子
检测器
样品室样品也
增幅器
二次电子
真空泵
LM,TEM和SEM
日立小
Opticalsource
Electricsource
Electricsource
CondenserLel
Specimen
Specimen
00;/00
objlense
冈ObjLensScanning:
SEDetector
Specimens
Image
mag
Images
CRT
TEM
SEM
SU8020的外观结构
日立小
Beammonitor
preamplifier
Electrongun
Beammonitor
Secondary
Objectivemovable
electrondetector
aperturecover
Secondary
ation
electrondetector
trapdewal
(U-detector)
Specimenstage
exchangedevice
Evacuation
controlpanel
电子枪的结构
日立小
●FE-SEM电子枪
引出电源
引出电源
栅极保护层
ZrO/W10
第1阳极
第1阳极
310单品发射体
第2阳极
FETip
肖特基FE
冷场FE
阴极温度
1800K
室温
能量范围
1~0.7eV
0.2eV左右
电子源大小15-30m
5m以下
适合超高分辨
亮度
5x108A/cms1
2x109A/cm-sr
观察
探针电流
100nA以上
2nA左右
电子束稳定性
无需闪烁
需闪烁
寿命
1~2年3年以上
电子的色差
日立八分7
热场
冷场
d=15~30nm
d=5nm
E=1~0.7eV
△E=0.2eV
亮度:5×108A/cm2
「适合高分辨观家
亮度:2×109Acm2
探针电流:100nA以上
适合大电流分析
深针电流:2nA
2.SE和BSE信号
日立小
入射电子束
内部信号
深度随加速电压变化而变化特征X射线
荷电影响小
(元素信息)
BSE背散射电子
(凹凸/成份信息)
面信号
荷电影响大
CL荧光
SE二次电子
(化学结合状态信息)
俄歇电子(表层的元素信息
10nm以内
二次电子逸出深度)
电子散射区域
样品
EBIC样品吸收电流
入射电子束在样品中激发出的各种信号
SE和BSE的激发原理
日立小
入射电子
背散射电子
次电子
(BackscatteredElectron)(SecondaryElectron)
真空
样品(金属)
SE及BSB信号的产生
日立小
pRimaryBeamwokindsofSE
SEI-surfacefeatures
SE2-internalinformation
Backscattered
SElmore=surfacefeatures
Electron
SE2more=internalinformation
SecondaryElectionsecondaryElectron
(SEl)
TheDepthofSEGeneration
(10nm)
SecondaryElec
Specimen
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