半导体制程用化学品应用.pptVIP

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集成電路工業體系;BasicStructureofaProductionProcess;WetChemicalProcess

Processtype Numberinthe64Mproduction

Stripping about20

Etching about15

Cleaning about30;WetChemicalsinICProduction;UseofKeyChemicalsintheSemiconductorProduction;濕式清潔技術與化學品;濕式清潔技術與化學品;濕式清潔技術與化學品;微影技術用化學品;微影技術用化學品;微影技術用化學品;蝕刻技術用高純度化學品;濕式蝕刻技術與化學品;二氧化矽層蝕刻;一般是以熱磷酸(140oC以上)溶液作為Nitride層蝕刻液,反應溫度愈高,磷酸組成在水份蒸發後也隨之升高,蝕刻率也會加快,在140oC時,蝕刻率約在20?/min,當溫度上升至200oC時,蝕刻率可達200?/min,實務上多使用85%之H3PO4溶液。化學反應式如下:

Si3N4+6H2O3SiO2+4NH3

H3PO4actasacatalystinSi3N4etching

;鋁層蝕刻;單晶矽/多晶矽層蝕刻;晶背蝕刻;化學機械研磨用材料及化學品;化學機械研磨用材料及化學品;化學機械研磨後清洗;Wafer;Wafer;Wafer;;;Wafer;Wafer;Wafer;CuTechnology;CMPProcess;LowKMaterial;ProcessChemicalsSummary

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