XRD在纳米材料上的应用2.docx

XRD在镍包覆纳米二氧化钛实验中的应用

应用化学

陈阳

1282080033

摘要

本文主要采用化学镀的方法在纳米二氧化钛外表包覆一层镍。通过溶胶-凝胶的方法制备出二氧化钛纳米粒子，用X射线衍射仪检测分析二氧化钛的锐钛矿型和金红石型含量。用X射线衍射仪检测分析包覆后的二氧化钛的组成。

在二氧化钛包覆镍的过程中对二氧化钛活化采用不同的方法，用X射线衍射仪分别检测分析包覆效果并进展比拟分析。

关键词：二氧化钛；包覆；镍；X射线衍射

1概述

X射线衍射分析〔XRD〕在纳米材料研究中的应用

X射线衍射分析较常用于物相的定向和定量分析以及晶粒度、介孔构造等的测定1.1XRD定性分析原理及应用

XRD定性分析是利用XRD衍射角位置以及强度来鉴定未知样品的物相组成。各衍射峰的角度及其相对强度是由物质本身的内部构造决定的。每种物质都有其特定的晶体构造和晶胞尺寸，而这些又都与衍射角和衍射强度又着对应对应关系。因此，可以根据衍射数据来鉴别晶体构造。通过将未知物相的衍射把戏与物相衍射把戏相比拟，可以逐一鉴定出样品中的各种物相。目前可以利用粉末衍射卡片进展直接比对，也可以通过计算机数据库直接进展检索。

1.2XRD定量分析原理及应用

XRD定量分析是利用衍射线的强度来确定物相含量的。每一种物相都有各自的特征衍射线，而衍射线的强度与物相的质量分数成正比。各物相衍射线的强度随该相含量的增加而增加。目前对于XRD物相定量分析最常用的方法主要有单线条法、直接比拟法、内标法、增量法以及无标法。

1.3XRD测定晶粒度

XRD测定晶粒度是基于衍射线的宽度与材料晶粒大小有关这一现象。对于TiO2纳米粉体，其主要衍射峰2θ°，可指标化为(101)晶面图〔1.1〕。当采用铜靶作为衍射源，波长为0.154nm，衍射角的2θ°°，一般Scherrer常数取0.89.根据Scherrer公式，可以计算获得晶粒的尺寸

此外，根据晶粒大小，还可以计算纳米粉体的比外表积。

1.4小角X射线衍射

在纳米多层膜材料中，两薄膜层材料反复重叠，形成调制界面。当X射线入射时，周期良好的调制界面会与平行薄膜外表的晶面一样，在满足Bragg条件时，产生相干衍射，形成明锐的衍射峰。由于多层膜的调制周期比金属和化合物的最大晶面间距大得多，所以只有小周期多层膜调制界面产生的XRD衍射峰可以再小角度衍射时观察到，而大周期多层膜调制界面XRD衍射峰那么因其衍射角度更小而无法进展观测。因此，对制备良好的小周期纳米多层膜可以用小角度XRD方法测定其调幅周期。

图1-2为纳米TiN/AlN薄膜样品的XRD谱[1]

途中结果说明，对于S2样品在2θ°2θ°，调制周期为3.31nm;分别与其设计周期2nm和3.5nm近似相等。

同样，XRD的小角衍射还可以用来研究纳米介孔材料的介孔构造。由于介孔材料可以形成很规整的孔，可以看作为多层构造。因此，也可以用XRD的小角衍射来通过测定孔壁之间的距离来获得介孔的直径。这是目前测定纳米介孔材料构造最有效的方法之一。该方法的局限是对孔排列不规整的介孔材料，不能获得其孔径大小的结果。

图1.2TiN/AlN纳米多层膜的XRD小角衍射

1.5薄膜厚度和界面构造的测定[2]

随着纳米材料的高速开展，纳米薄膜的研究也变得越来越重要。利用XRD研究薄膜的厚度以及界面构造也是XRD开展的一个重要方向。通过二维XRD衍射还可以获得物相的纵向深度剖析结果，也可以获得界面物相分布结果。图1-3是在单晶硅片上制备的50nm厚的Au薄膜样品的XRD深度剖析图。从图上不仅可以了解物相组成，物相随深度的分布，还可以得到晶面取向的信息。

图1.3XRD研究Au/Sr薄膜材料厚度分度图

1.6物质状态的鉴别

不同的物质状态对X射线的衍射作用是不同的，因此可以利用X射线谱来区别晶态和非晶态。图1-4为不同物质状态的X射线衍射谱图。一般非晶态物质的XRD谱为一条直线，平时所遇到的在低2θ角出现的漫散型峰的XRD一般是由液体型固体和气体型固体所构成。晶体物质又可以分为微晶和晶态。微晶具有晶体的特征，但由于晶粒小会产生衍射峰的宽化弥散，而结晶好的晶态物质会产生锋利的衍射峰。

2XRD在纳米二氧化钛外表包覆镍实验中的应用

本工作采用日本理学Dm/xa2500型X射线衍射仪对二氧化钛纳米粒子进展成分分析，XRD测定晶粒度是基于衍射线的宽度与材料晶粒大小有关这一现象。晶粒大小用Scherrer公式来计算，公式如下。

式中：D——沿晶面垂直方向的厚度〔也可以认为是晶粒大小〕，单位nm；

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