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浅谈光的干涉的应用前沿

摘要：19世纪初，英国的物理学家在实验过程中成功地观察到了光的干涉?F象，从此打开了物理学中有关光学研究的新大门。本文在一系列科研人员的研究基础上，对光的干涉的相关发展历史进行了简要回忆并对其在纳米精度测量以及全息照相、瓦斯浓度的检测等领域的研究进行了概述。

关键词：光的干涉；纳米精度测量；全息照相

中图分类号：G642文献标识码：A文章编号：1671-2064（2017）21-0197-02

1光的干涉的研究历史

广阔的物理学研究领域中，光学作为作为从牛顿时代以来的分支之一，一直是物理学研究人员们研究的重点领域。起初惠更斯和牛顿在相关方面的讨论以及争论持续了很长时间，最终由于牛顿在相关领域中权威较大，光的粒子性具有了统治地位。但在之后的双缝干涉实验中，光的波动性再次被科研工作者们重视起来。直到20世纪，德布罗意提出了光的波粒性二向性，物理学家才真正了解到了光的本性。

3应用前沿

在现代工艺中，人们常常利用光的干涉来解决现实中的多种复合的或者复杂问题。利用光的干涉原理可以在工程技术中处理大量问题，例如：它既可以测量光波的波长、透明介质的折射率又可以确定电磁波的发射源头方位，并可以较为精确地测量工件的平整度以及薄膜的厚度，从而被广泛应用于镀膜技术中。

3.1纳米精度测量

在实际工艺当中，科研人员们常常利用光的干涉来进行精度测量。例如：检定螺旋测微器（即千分尺）、精确测定光学部件的曲率半径、检测特殊精密零件以及测量微小楔角等。而目前，更多的应用则是在纳米精度测量中。而通过文献调查，发现能够实现纳米测量以及量值研究方法主要有：X射线干涉仪、计算型扫描探针显微镜、电感电容测微仪以及外差式激光干涉仪等设备仪器。同时，在光学纳米干涉测量方法中更是广泛采用了电子倍频技术、干涉条纹细分技术以及光学倍程技术等技术。这些技术的应用又在在很大的程度上提高了光学干涉的测量分辨率。

在20世纪六十年代，科研工作者们首次提出了利用射线衍射效应进行位移测量的设想。而在之后的研究进程中，人们发现在实际使用过程中中，单晶硅的晶格尺寸是稳定的，并对硅的某一晶体晶面间距进行了测量，而实验结果则充分说明单晶硅晶面间距做为长度测量基准具有良好的稳定性。由此，利用光干涉现象的X射线干涉技术被逐步完

关注于更加精细甚至精致的科研工作与数据测量。我国国内的有关光的干涉的研究以及相关应用相比于国外发达国家起步较晚，发展较为缓慢，目前还有许多理论以及技术问题有待科研工作者的继续探索。但可以确定的是，光的干涉的研究以及应用正在快速融入人们的生产生活当中，并不断地提高人的生活质量。在未来，我们也需要加快培养高素质人才，采用高端技术，加大投资力度为光干涉的进一步发展做出不懈的努力。

参考文献

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