《GBT 4937.35-2024半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学.pptx

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《GB/T4937.35-2024半导体器件机械和气候试验方法第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查》最新解读;目录;目录;目录;目录;目录;目录;PART;塑封电子元器件声学显微镜检查概述;;PART;原理;非破坏性检测;PART;分层;塑封体内不均匀的空洞分布,可能由塑封料混合不均匀、注射压力不足或模具设计不合理导致。这些空洞会削弱塑封体的结构完整性,并可能引发其他缺陷。;;PART;;应用领域与场景;;应用领域拓展;PART;GB/T4937.35-2024标准解读与重要性;标准详细规定了声学显微镜在检查塑封电子元器件分层、裂纹、模塑料空洞等缺陷时的具体操作方法和程序。;;标准化与规范化

标准的发布和实施,有助于统一行业内的检测方法和评价标准,推动半导体器件行业的健康发展。;标准实施的意义:;GB/T4937.35-2024标准解读与重要性;;PART;保障产品性能与稳定性

塑封电子元器件作为电子产品的基础组成部分,其质量直接影响产品的整体性能和稳定性。任何微小的缺陷,如分层、裂纹、模塑料空洞等,都可能导致产品性能下降甚至失效,因此严格的质量控制对于确保产品的可靠性和稳定性至关重要。

预防安全事故

电子元器件在电子设备中扮演着关键角色,其质量问题可能引发短路、过热等安全隐患,进而造成设备损坏甚至人身伤害。因此,对塑封电子元器件进行严格的质量控制,有助于预防安全事故的发生。;;满足行业标准和法规要求;PART;声学显微镜对塑封元器件的透视能力;;PART;;试样制备;;结果分析;PART;样品准备;样品预处理;PART;声学显微镜检测原理

声学显微镜通过高频超声波在材料内部的传播和反射,形成内部结构的声学图像。这种技术能够非破坏性地探测塑封电子元器件内部的微小缺陷,如分层、裂纹、空洞等。高频超声波在材料中的传播速度与材料的密度、弹性模量等物理特性密切相关,因此通过分析声学图像,可以获取关于材料内部结构的详细信息。

检测对象与范围

声学显微镜检查主要适用于塑封电子元器件,包括集成电路、二极管、晶体管等。检测范围覆盖芯片与封装材料之间的界面、引线架与封装材料的连接处、封装材料内部的空洞和裂纹等。这些区域是塑封电子元器件中常见的潜在缺陷源,对器件的可靠性和性能有重要影响。;检测流程与步骤

声学显微镜检测塑封电子元器件的一般流程包括样品准备、声学图像采集、图像分析与缺陷识别、以及报告编制等步骤。在样品准备阶段,需要确保样品表面清洁无杂质,并根据需要进行切片处理以暴露内部结构。在图像采集阶段,利用声学显微镜对样品进行扫描,获取高质量的声学图像。随后,通过图像分析软件对图像进行处理和解读,识别出潜在的缺陷。最后,根据检测结果编制详细的报告,为后续的器件筛选、鉴定和可靠性评估提供依据。;;PART;;X射线检查;PART;;;PART;声学显微镜检查技术(AcousticMicroscopy,AM)是一种非破坏性的检测方法,利用超声波在材料内部的传播和反射特性,对塑封电子元器件的封装质量进行高灵敏度的检测。该技术能够有效识别塑封器件内部的分层、空洞、裂纹等潜在缺陷,为封装质量的评估提供可靠依据。;;;PART;声学显微镜在半导体封装测试中的优势;;PART;1.声学显微镜检查技术概述;样品准备;3.提升塑封元器件可靠性的具体措施;;与其他检测技术(如X射线检测、红外热成像等)相结合,提高综合检测能力。;PART;分层与裂纹;优化封装材料:选用热膨胀系数匹配、吸湿性低、机械强度高的塑封材料,减少分层、开裂和潮气入侵的风险。;失效案例一;PART;;;检测精度与分辨率:;;PART;;;在GB/T4937.35标准实施之前,行业内可能存在多种不同的塑封元器件测试方法。该标准的发布和实施,有助于统一和规范测试方法,减少因测试方法不同而导致的测试结果差异,提高测试结果的准确性和可比性。这有助于企业更准确地评估产品质量,制定更有效的生产和质量控制策略。;PART;塑封电子元器件声学检查的质量控制点;;PART;缺陷识别与预防

声学显微镜检查能够精准地识别塑封电子元器件内部的缺陷,如空洞、分层、裂纹等。在产品研发阶段,这些缺陷的及时发现和修复可以避免产品在使用过程中出现故障,提高产品的可靠性和稳定性。通过声学显微镜检查,研发团队可以优化生产工艺,减少缺陷的产生,从而提升产品质量。

质量控制与评估

在产品研发阶段,声学显微镜检查是质量控制的重要手段之一。通过对样品进行声学显微镜检查,可以对生产批次的质量进行评估,确保产品符合设计要求和质量标准。同时,该检查方法还可以用于筛选优质产品,剔除有缺陷的个体,提高产品的整体性能。;声学显微镜检查在产品研发阶段的作用;PART;;;应用实例;PART;高分辨率成像技术

声学显

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