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基于有限元分析和回归预测的电子散斑干涉检测方法研究.pdf

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标题基于有限元分析和回归预测的电子散斑干涉检测方法研究内容电子散斑干涉测量技术ESPI是一种非接触式的缺陷检测方法,能够在适当的加载条件下实时检测物体内部的缺陷本文以6061铝材质的平板试件为研究对象,基于电子散斑干涉测量技术进行了深度分析,揭示了铝板内部缺陷检测的影响因素和不同加载条件下的检测规律实验采用了有限元软件ABAQUS进行建模,包括真空加载和热加载的方式,模拟了铝板内部缺陷的变形通过对激光束照射并记录下变形的离面位移,可以得到缺陷产生的干涉条纹图,以便找

摘要

电子散斑干涉测量技术(Electronicspecklepatterninterferometry,简称ESPI),

是在适当的加载条件下应用光学干涉原理对物体的内部缺陷进行实时检测的技

术,具有非接触、全场测量等优点。由于被测物体的内部缺陷具有隐蔽性,检测

时往往因加载条件不当造成漏检,因此针对不同缺陷找到合适的缺陷检测条件尤

为重要。

本文以6061铝材质的平板试件为研究对象,基于电子散斑干涉测量技术研

究铝板内部缺陷检测方法。为了探究合适的缺陷检测条件,基于有限

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