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摘要
摘要
双同轴高频电连接器凭借其抗干扰性强、传输速率高等优点，被广泛应用于
航空、航天、兵器等军事系统及其他电子设备系统的信号传输。随着型号装备系
统可靠性需求的不断增强，评估长期随弹贮存高频电连接器的可靠性成为研究的
重点，而准确评估高频电连接器可靠性的前提就是明确其贮存条件下的失效机理
及其主要性能的退化规律。为此，本文以GJB599I系列双同轴高频电连接器为研
究对象，探究其贮存过程中的主要失效机理，建立关键性能指标的加速退化模型，
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