一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法 .pdf

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（10）申请公布号

CN106404709A

（43）申请公布日2017.02.15

（21）申请号CN201611022610.7

（22）申请日2016.11.21

（71）申请人电子科技大学中山学院

地址528400广东省中山市石岐区学院路1号

（72）发明人何志红;陈李胜;江希陵;胡云峰;陈卉;牟洪洋

（74）专利代理机构广东中亿律师事务所

代理人杜海江

（51）Int.CI

G01N21/3586;

G01N21/3563;

权利要求说明书说明书幅图

（54）发明名称

一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法

（57）摘要

本发明公开了一种基于偏最小二乘回归模

型的无机荧光粉检测方法,包括无机荧光粉和纯聚

乙烯干燥步骤、定量混合步骤、研磨步骤、压片

步骤、采用透射式太赫兹时域光谱仪扫描检测样

品得到太赫兹时域光谱步骤、建立偏最小二乘回

归模型步骤和计算最佳主成分数步骤，利用物质

的THz光谱具有唯一性和特征性,采用THz‑TDS技

术对荧光粉做到无损检测，对材料结构和物理性

能没有影响的前提下，快速有效区分其内部细微

结构的不同，检测区分不同厂家不同品牌的荧光

粉，提高了检测方法的可靠性，能进一步推动

THz光谱技术的应用和研究。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

2017-02-15公开公开

2017-03-15实质审查的生效实质审查的生效

权利要求说明书

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说明书

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