电子束曝光技术专题培训课件.pptVIP

电子束曝光技术专题培训课件.ppt

此“教育”领域文档为创作者个人分享资料,不作为权威性指导和指引,仅供参考
  1. 1、本文档共149页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

电子束曝光技术;摘要;第一节:纳米加工技术概述;纳米加工技术;纳米加工技术;在过去的十几年中,半导体微电子产业将微纳加工技术推进到了亚微米阶段。目前已经推进到纳米阶段。在此期间,与半导体微电子产业相关的微纳加工技术得到飞速发展。

在这些相关技术中,图形曝光技术是微电子制造技术发展的主要驱动者。曝光图形分辨率和套刻精度的不断提高,促成了器件集成度的提高和成本的下降。

在半导体器件的制造中,首先需要在晶片上形成所需要的图形,这些图形就是通过曝光工艺来完成的。图形最小的特征尺寸决定了半导体器件的性能和生产成本。因此,曝光工艺成为半导体器件制造的关键技术。;微纳光刻技术;传统光学曝光技术;前烘;X射线曝光技术;X射线光刻机

(Stepper);极紫外曝光技术(EUV);极紫外曝光技术(EUV);离子束曝光技术;电子束曝光技术是近30年来发展起来的一门新兴技术,它集电子光学、精密机械、超高真空、计算机自动控制等近代高新技术于一体,是推动微电子和微细加工技术进一步发展的关键技术之一。

先进的电子束曝光机主要适用于0.5微米以下的超微细加工,可以实现数十纳米线条的曝光。

电子束曝光技术广泛地应用于制造新型微纳结构器件、高精度光刻掩模版、以及纳米压印的印模等。;电子束曝光的定义;Date;Date;JEOL和Leica电子束曝光系统对比;电子束曝光系统分类;电子束曝光系统的重要关注指标;;第二节:电子束抗蚀剂;电子束抗蚀剂;正抗蚀剂;正抗蚀剂;负抗蚀剂;负抗蚀剂;化学放大抗蚀剂;对电子束敏感的聚合物;抗蚀剂的分辨率;高分辨率、高对比度、低灵敏度。

灵敏度随着相对分子质量减小而增加。

灵敏度随着显影液MIBK:IPA中MIBK的比例增加而增加。

可以用深紫外或者X射线曝光

抗刻蚀性能差!;ZEP520A;HSQ(HydrogenSisequioxane);抗蚀剂曝光图形对比;影响抗蚀剂图形质量的重要参数;1、抗蚀剂厚度的控制;电子束抗蚀剂的旋涂和烘烤;电子束抗蚀剂自动旋涂机;轉軸;轉軸;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗??剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;电子束抗蚀剂自动旋涂;光学式边缘球状物移除—边缘曝光;烘烤系统;C;电子束扫描方式与曝光;电子束电压与图形剂量关系(曝光PMMA950K正胶)

EHT10kV 20kV 30kV

Area 100μC/cm2 200μC/cm2 300μC/cm2

Line 300pC/cm 600pC/cm 900pC/cm

Dot 0.1fC 0.2fC 0.3fC

工艺方法

显影液MIBK:IPA=1:3,显影时间10s-30s

定影液IPA,定影时间10s-30s;SUSS全自动显影机;显影;显影;显影;超纯水清洗;旋干;准备好到下一步骤;2、电子束曝光剂量的影响;Increaseofdosewith

voltageforallresists;前向电子散射;背向电子散射;电子能量与散射范围的关系;是哪种电子导致曝光呢?;邻近效应(ProximityEffect);克服外邻近效应的图形补偿;PMMA作为负胶使用的工艺;(D.F.KyserandN.S.Viswanathan,MonteCarlosimulationofspatiallydistributedbeamsin

electron-beamlithography,J.Vac.Sci.Technol.12(6),1305-1308(1975));Y.Lee,W.Lee,andK.Chun1998/9,Anew3Dsimulatorforlowenergy(~1keV)Electron-BeamSystems;3、灵敏度和对比度;Resistcontrast=Slopeinresist;高对比度;影响对比度的因素;电子束扩展和注入深度;图形坍塌;曝光线条的粗糙度;曝光线条粗糙的成因;(MarkA.McCord,IntroductiontoElectron-BeamLithography,ShortCourseNotesMicrolithography

1999,SPIEsInternationalSymposiumonMicrolithography14-19March,1999;p.63);二次电子的散射范围(~5-10nm

文档评论(0)

精致文档 + 关注
实名认证
文档贡献者

精致文档

1亿VIP精品文档

相关文档