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材料分析思考题（答案）.

安徽⼯业⼤学材料分析测试技术复习思考题

第⼀章X射线的性质

X射线产⽣的基本原理

1X射线的本质：电磁波、⾼能粒⼦、物质

2X射线谱：管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等

连续谱短波限只与管电压有关，当固定管电压，增加管电流或改变靶时短波限λ0不变。随管电压增⾼，连续谱各波长的强度

都相应增⾼，各曲线对应的最⼤值和短波限λ0都向短波⽅向移动。

3⾼能电⼦与物质相互作⽤可产⽣哪两种X射线？产⽣的机理？

连续X射线：当⾼速运动的电⼦(带电粒⼦)与原⼦核内电场作⽤⽽减速时会产⽣电磁辐射,这种辐射所产⽣的X射线波长是连续

的,故称之为连续X射线。

特征(标识)X射线：由原⼦内层电⼦跃迁所产⽣的X射线叫做特征X射线。

X射线与物质的相互作⽤

1两类散射的性质

(1)相⼲散射：与原⼦相互作⽤后光⼦的能量（波长）不变，⽽只是改变了⽅向。这种散射称之为相⼲散射。

(2)⾮相⼲散射:：与原⼦相互作⽤后光⼦的能量⼀部分传递给了原⼦，这样⼊射光的能量改变了，⽅向亦改变了，它们不会相

互⼲涉，称之为⾮相⼲散射。

2⼆次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产⽣的机理与条件

⼆次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的⼆次特征X射线叫X射线荧光。

俄歇效应：俄歇电⼦的产⽣过程是当原⼦内层的⼀个电⼦被电离后，处于激发态的电⼦

将产⽣跃迁，多余的能量以⽆辐射的形式传给另⼀层的电⼦，并将它激发出来。这种效应

称为俄歇效应。

第⼆章X射线的⽅向

晶体⼏何学基础

1晶体的定义、空间点阵的构建、七⼤晶系尤其是⽴⽅晶系的点阵⼏种类型

晶体：在⾃然界中，其结构有⼀定的规律性的物质通常称之为晶体

2晶向指数、晶⾯指数（密勒指数）定义、表⽰⽅法，在空间点阵中的互对应

晶向指数（略）

晶⾯指数：对于同⼀晶体结构的结点平⾯簇，同⼀取向的平⾯不仅相互平⾏，⽽且，间距相等，质点分布亦相同，这样⼀组晶

⾯亦可⽤⼀指数来表⽰，晶⾯指数的确定⽅法为：

A、在⼀组互相平⾏的晶⾯中任选⼀个晶⾯，量出它在三个坐标轴上的截距并以点阵周期a、b、c为单位来度量；

B、写出三个截距的倒数；

C、将三个倒数分别乘以分母的最⼩公倍数，把它们化为三个简单整数h、k、l，再⽤圆括号括起，即为该组晶⾯的晶⾯指

数，记为(hkl)。显然，h、k、l为互质整数。

3晶带、晶带轴、晶带定律，⽴⽅晶系的晶⾯间距表达式

(1)晶带：在晶体结构和空间点阵中平⾏于某⼀轴向的所有晶⾯称为⼀个晶带。

(2)晶带轴：晶带中通过坐标原点的那条平⾏直线称为晶带轴。

(3).晶带定律：凡属于[uvw]晶带的晶⾯，它的晶⾯指数(HKL)必定符合条件：

Hu+Kv+Lw=0

4厄⽡尔德作图法及其表述，它与布拉格⽅程的等同性证明

(a)以λ

1=kρ为半径作⼀球；(b)将球⼼置于衍射晶⾯与⼊射线的交点。

(c)初基⼊射⽮量由球⼼指向倒易阵点的原点。

(d)落在球⾯上的倒易点即是可能产⽣反射的晶⾯。

(e)由球⼼到该倒易点的⽮量即为衍射⽮量。

5布拉格⽅程：2dsinθ＝nλ

6布拉格⽅程的导出、各项参数的意义，作为产⽣衍射的必要条件的含义。

布拉格⽅程只是确定了衍射的⽅向,在复杂点阵晶脆中不同位置原⼦的相同⽅向衍射线,

因彼此间有确定的位相关系⽽相互⼲涉,使得某些晶⾯的布拉格反射消失即出现结构消光,

因此产⽣衍射的充要条件是满⾜布拉格⽅程的同时结构因⼦不为零

7⼲涉指数引⼊的意义，与晶⾯指数（密勒指数）的关系

⼲涉指数HKL与Miller指数hkl之间的关系有：H=nh,K=nk,L=nl

不同点：（1）密勒指数是实际晶⾯的指数，⽽⼲涉晶⾯指数不⼀定；（2）⼲涉指数HKL与

晶⾯指数(Miller指数)hkl之间的明显差别是：⼲涉指数中有公约数，⽽晶⾯指数只能是

互质的整数。

相同点：当⼲涉指数也互为质数时，它就代表⼀族真实的晶⾯。所以说，⼲涉指数是晶⾯

指数的推⼴，是⼴义的晶⾯指数。

第三章X射线衍射强度

1原⼦散射因⼦、结构因⼦、系统消光的定义与意义

系统消光：在X射线衍射过程中，把因原⼦在晶体中位置不同或原⼦种类不同⽽引起的

某些⽅向上的衍射线消失的现象称为系统消光。

结构因⼦：定量表征原⼦排布以及原⼦种类对衍射强度影响规律的参数称为结构因⼦，

即晶体结构对衍射强度的影响因⼦。

2结构因⼦的计算=2hklF21)(2cos++∑=njjjjjLZKYHXfπ+21)(2sin++∑=njjjjjLZKYHX