电子技术基础实验指导教程 课件 第八章 逻辑门电路实验.pptx

第八章逻辑门电路实验8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试8.2CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试8.3集成逻辑电路的连接和驱动

8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与

参数测试1.实验目的1）掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。2）掌握TTL器件的使用规则。3）进一步熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。2.实验设备与元器件1）5V直流电源2）逻辑电平开关3）逻辑电平显示器4）直流数字电压表5）直流毫安表6）直流微安表7）74LS20×2

8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与

参数测试3.实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一个集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门都有4个输入端。其逻辑框图、逻辑符号及引脚排列如图8-1（a）、（b）、（c）所示。与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上为低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（有“0”得“1”，全“1”得“0”）其逻辑表达式为????

8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与

参数测试4.实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。1）验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图8-6接线，门的4个输入端接逻辑电平开关的输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上输出逻辑“1”，开关向下输出逻辑“0”。门的输出端接由发光二极管（LED）组成的逻辑电平显示器（又称0-1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。按表8-2所示的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。74LS20有4个输入端，有16个最小项，在实际测试时，只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110这5项进行检测，就可判断其逻辑功能是否正常。

8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与

参数测试2）74LS20主要参数的测试（1）分别按图8-2、图8-3、图8-5（b）连线并进行测试，将测试结果记入表8-3。（2）接图8-4连线，调节电位器，使从0V向高电平变化，逐点测量对应值，记入表8-4。5.实验报告1）记录、整理实验结果，并对结果进行分析。2）画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。

8.2CMOS集成逻辑门的逻辑功能

与参数测试1.实验目的1）掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。2）学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法。2.实验设备与元器件1）+5V直流电源2）双踪示波器3）连续脉冲源4）逻辑电平开关5）逻辑电平显示器6）直流数字电压表7）直流毫安表8）直流微安表9）CC4011、CC4001、CC4071、CC4081

8.2CMOS集成逻辑门的逻辑功能

与参数测试3.实验原理1．CMOS集成电路将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一个集成电路中，成为组合两种沟道MOS晶体管性能的更优良的集成电路。2．CMOS门电路的逻辑功能。尽管CMOS与TTL电路的内部结构不同，但它们的逻辑功能完全一样。本实验将测定与门CC4081、或门CC4071、与非门CC4011、或非门CC4001的逻辑功能。各集成块的逻辑功能与真值表参阅有关教材及资料。3．CMOS与非门的主要参数。CMOS与非门的主要参数的定义及测试方法与TTL电路相仿，此处略。4．CMOS电路的使用规则。CMOS电路有很高的输入阻抗，这给使用者带来了一定的麻烦，即外来的干扰信号很容易在一些悬空的输入端感应出很高的电压，以致损坏器件。

8.2CMOS集成逻辑门的逻辑功能

与参数测试4.实验内容1）CMOS与非门CC4011参数测试（方法与TTL电路相同）。（1）测试CC4011一个门的ICCL、ICCH、IIH、IIL。（2）测试CC4011一个门的传输特性（一个输入端作为信号输入，另一个输入端接逻辑高电平）。（3）将CC4011的三个门串接成振荡器，用双踪示波器观测输入、输出波形，并计算tPd值。2）验证CMOS各门电路的逻辑功能，判断其好坏。验证与非门CC4011、与门CC4081、或门CC4071及或非门CC4001的逻辑功能。以CC4011为例：测试时，选好某一个14P插座，插入被测器件，其输入端A、B接逻辑电平开关的输出插口，其输出端Y接至逻辑电平显示器的输入插口，拨动逻辑电平开关，逐个测试各门的逻辑功能，并记入表8-5。3）观察与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。将与非门按图8-7（a）、（b）接线，将一个输入端接连续脉冲源（频率为20kHz），用双踪示波器观察两种电路的输出波形，并记录。然后测定与门和或非门对脉冲的控制作用。

8.2CMOS集成逻辑门的逻辑功