实验七-多模光纤衰减测试实验.pdfVIP

光纤光缆传输特性测试实验

实验七多模光纤衰减测试实验

一、实验目的

1、了解光纤损耗的定义

2、学会用插入法测量多模光纤的损耗

二、实验内容

1、测量多模光纤的衰减

2、测量多模光纤的弯曲损耗

三、预备知识

1、了解多模光纤的特点、特性

四、实验仪器

1、ZY12OFCom13BG3型光纤通信原理实验箱1台

2、850nm光发端机1个

3、FC接口光功率计1xx

4、万用表1xx

5、ST/PC-FC/PC多模光跳线1根

6、FC/PC-FC/PC多模光跳线1根

7、扰模器1xx

8、小可变衰减器（或2km光纤）1个

9、连接导线20根

五、实验原理

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1、损耗机理

本实验研究无源器件多模光纤的损耗。

对于光纤来说，产生损耗的原因较复杂，光能在光纤中传输时，除了由于

吸收、散射而使光能损失外，由于成缆敷设造成的光纤微弯和宏弯曲，光纤的

耦合和接续，都会使光能产生附加的损失。归纳起来，产生衰减的原因大致可

以分为三大类：

吸收损耗，散射损耗，附加损耗，具体如下：

（1）纤芯和包层物质的吸收损耗，包括石英材料的本征吸收和杂质吸收；

（2）纤芯和包层材料的散射损耗，包括瑞利散射损耗以及光纤在强光场作

用下诱发的受激喇曼散射和受激布里渊散射；

（3）由于光纤表面的随机畸变或粗糙所产生的波导散射损耗；

（4）光纤弯曲所产生的辐射损耗；

（5）外套损耗。

这些损耗可以分为两种不同的情况：

一是石英光纤的固有损耗机理，像石英材料的本征吸收和瑞利散射，这些

机理限制了光纤所能达到的最小损耗；二是由于材料和工艺所引起的非固有损

耗，它可以通过提纯材料或改善工艺而减小甚至消除其影响，如杂质的吸收、

波导散射等。光纤中平均光功率沿长度减少的规律为：

P(Z)P

(0)10Z10

（7-1）其中P(Z)和P

(0)分别为轴向距离Z处和Z＝0处的光功率，α为光纤的衰减系数，定义为

单位长度光纤引起的光功率衰减，单位是dB/km。当Z=L时，

()10logP(Z

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L)P(0)dB/km（7-2）这里()表示在波长处的衰减系数。应用上式时，

要特别注意两点：

（1）假定光纤沿轴向是均匀的，即与轴向位置无关。

（2）对多模光纤，必须达到平衡模分布。只有满足这样的条件，测得的衰

减系数才能线性相加。

2、损耗测量

测量光纤损耗的方法很多，CCITT建议以剪断法为参考，插入法为第一替代

法，背向散射法为第二替代法。

多模光纤损耗的测量，注入条件是头等重要的。多模光纤中可以传输成百

上千个模，由于耦合条件的不同，各模携带的初始能量亦不同，传播过程中，

由于模变换、模耦合和模衰减，各模携带的能量比例不断变化，只有经过很长

的传输距离后，各模传输能量的比例才能固定下来。这时才达到了平衡模分布

或稳态模分布。也就是说光纤输出端的近场分布和远场分布不再随长度而变

化。随着光纤轴向均匀性的差异和光纤所处的状态不同，达到平衡模分布的长

度也不一样，一般可从几百米到几千米不等。显然，测量剪断后2m光纤的长度

是远远达不到平衡模分布要求的。为了满足测量的要求，必须加速平衡模分布

建立的过程，就是说，要人为地控制注入条件和注入技术，使1～2m长光纤输

出端的场分布接近平衡模分布。

注入技术采取的措施包括扰模器（scrambler）、滤模器（modefilter）和包

层模剥除器（claddingstripper）等。

在实验系统测试多模光纤损耗时，采用CCITT推荐的以剪断法为测试方法，

用小可变衰减器替代可调衰减的多模光纤，用柱状扰模器形成平衡模分布，测

试实验框图如图7-1所示。

测试方法为首先用光纤跳线接850nm光发端机，经过扰模器扰模后测试得

到A点处光功率P

0，取下光功率计，接上待测光纤（小可变衰减器模拟），再用光功率计测

试得到B点光功率P