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《磁屏蔽装置动态磁屏蔽效能的测量方法》.pdf

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ICS43.180

CCST47

团体标准

T/CAMSXXXXX—XXXX

磁屏蔽装置动态磁屏蔽效能的测量方法

Methodformeasuringthedynamicshieldingeffectivenessofmagneticshielding

devices

(征求意见稿)

在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中国机械工业标准化技术协会发布

T/CAMSXXXXX—XXXX

磁屏蔽装置动态磁屏蔽效能的测量方法

1范围

本文件规定了磁屏蔽装置动态磁屏蔽效能测量方法的测量条件、测量系统和测量过程。测量频率为

10mHz-1kHz。根据需要频率向两端可扩展到0.1mHz和10kHz。

本文件适用于磁屏蔽室、磁屏蔽桶(筒)与磁屏蔽箱等磁屏蔽装置的屏蔽效能测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅

该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T12190—2021电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

GB/T2900.60—2002电工术语电磁学

JJ/F1906—2021恒定磁场线圈校准规范

3术语和定义

GB/T2900.60—2002和JJ/F1096—2021界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

磁屏蔽装置magneticshieldingdevice

使内部不受外部磁场影响的一种结构。

[来源:GB/T12190—2021,3.6,有修改]

注:它通常由硅钢片、坡莫合金、铝合金等高导磁、高导电材料制造。

3.2

磁屏蔽效能magneticshieldingeffectiveness;SEM

没有磁屏蔽装置时的磁场值与在磁屏蔽装置内的磁场值的比值。

[来源:GB/T12190—2021,3.5,有修改]

4测量条件

4.1测量磁场频率

测量磁场频率应覆盖磁屏蔽装置在实际使用时的频段,一般应避开工频(50Hz)。推荐的典型测

量频率为:10mHz、0.1Hz、1Hz、10Hz、100Hz、1kHz,可依据使用要求增加测量频率点。

4.2测量环境要求

在以下环境条件中使用:

a)环境温度为5℃-35℃;

b)相对湿度不大于85%;

c)测试环境周围无影响测试设备正常工作的电磁场干扰及振动。

5测量系统

5.1系统构成

4

T/CAMSXXXXX—XXXX

测量系统包括磁场激励源、交流电流表、磁场线圈、交变磁强计等,测量系统如图1所示,其中磁场激

励源给磁场线圈供电,用于产生测量所需要的电流;交流电流表用于测量磁场激励源输入到磁场线圈绕组中

的电流;磁场线圈用于产生测量所需要的磁场(B),交变磁强计用于测量经磁屏蔽装置屏蔽后的磁场(B)

01

注:磁场激励源可由信号源、放大器等组

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