《糖尿病脑病损伤中ONOO~-和半胱氨酸的荧光检测技术研究》.docx

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2025-01-18 发布于北京
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《糖尿病脑病损伤中ONOO~-和半胱氨酸的荧光检测技术研究》

一、引言

糖尿病是一种全球范围内普遍存在的慢性疾病，随着病情的发展，可能会引发一系列并发症，其中糖尿病脑病损伤（DiabeticEncephalopathyInjury,DEI）尤为严重。DEI是指糖尿病引发的神经系统损伤，对患者的认知、运动及情感等多方面功能产生严重影响。近年来，研究者们发现活性氧（ReactiveOxygenSpecies,ROS）和其衍生物如过氧亚硝酸盐阴离子（ONOO~-）以及半胱氨酸等在DEI的发病机制中扮演重要角色。因此，对ONOO~-和半胱氨酸的检测技术进行研究，对于深入了解DEI的发病机制