原创力文档【英语版】国际标准 ISO 20263:2024 EN Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials 微束分析——分析电子显微学——层状材料层界面位置测定方法.pdf
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- 2025-01-19 发布于四川
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ISO20263:2024ENMicrobeamanalysis—Analyticalelectronmicroscopy—Methodforthedeterminationofinterfacepositioninthecross-sectionalimageofthelayeredmaterials是关于微束分析的国际标准，特别是用于测定层状材料层界面在横截面图像中的位置的方法。这个标准提供了详细的操作步骤和注意事项，包括样品准备、微束分析设备的使用、图像处理等。它也强调了安全操作的重要性，包括个人防护设备和实验室安全规定。这个标准对于材料科学、化学、生物学等领域的研究人员来说是非常有用的，因为它提供了一种精确和可靠的方法来确定材料中界面位置，这对于理解材料的结构和性能至关重要。
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