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ICT培训教材;目录;;;二．ICT的测试原理;

当Rx有旁路（R1)时，

Ix=Is-I1≠Is

故：Vx/Is≠Rx此时取A

点电位Va,送至C点,

令Vc=Va,则：

I1=(Va-Vc)/R1=0,Is=Ix

从而：

Vx/Is=Rx如图:;?2.??量测电阻R：

(1).单个R(modeD1,D2):

直流定电流源:利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is.信号源Is取恒流（0.1uA—5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下图一.;(3).R//L(modeP1,P2,P3,P4,P5):

相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅助.|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并|Y’|=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ如下图:;3.??量测电容C电感L：

(1).单个CL（ModeA1.A2.A3.A4.A5）：

交流定电压:交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得：Cx=Ix/2лfVs.Vs/Ix=Zl=2лfLx,求得：Lx=Vs/2лfIx.

注:3UF以上电容用(ModelDC);(2).C//R或L//R:(P1.P2.P3.P4.P5)

相位法测试:

1.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx

求得：Cx=Cx’Sinθ(Cx’=Ix’/2лfVs)

2.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’=1/ωCx

求得：Lx=Lx’/Sinθ(Lx’=Vs/2лfIx’)

如下图:

;4.?量测PN结：（D、Q、IC）

信号源0-10V/3mAor30mA可程式电压源,量PN结导通电压

一般顺向电压0.7V;反向电压2.2V.

;这里主要讲下三极管的三端量测法;晶体管做三端点量测时,假设晶体管为NPNtype,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压，标准值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增加)，直到晶体管饱和导通(测试值应低于0.2V)。如果晶体管为PNPtype，改变实际值(ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少)，直到晶体管饱和导通（测试值应低0.2V）。;5.??量测Open/Short：

即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学习,R20Ω即归为ShortGroup，然后Test时进行比较，R10Ω判定为Short,R80Ω判为Open.;6.低压测试方法(LV)

低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端，同时测量零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使用此法。;7.高压测试方法(HV)

高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选

(HV),高压最大送出电压为50V;跳线测试(JumperTest)

跳线测试(JumperTest)采用一个比较器硬件线路，因此，测试的结果只有１、２、３、４四个值，