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统计过程控制

SPC-StatisticalProcessControl;SPC统计过程控制;主要内容;控制图的历史;控制图的历史;1924年发明;SPC统计过程控制;控制图在英国及日本的历史;控制图应用范例;SPCSQC;SPC概要说明;a).收集数据并用统计方法解释不是最终目标，最终目标是对实现过程的不断理解；

b).研究变差和应用统计知识改进性能的基本概念适用于任何领域；

c).SPC代表统计过程控制；

d).结合实际过程控制理解；

e).只是应用统计方法的开始；

f).假设的前提是测量系统是处于受控状态并对数据的总变差没有大的影响;SPC设想;SPC常用术语解释;中心线（CentralLine）;普通原因（CommonCause）;预防与检测;预防与检测;波动的概念;制程组成和波动原因;波动的种类;普通原因和特殊原因;普通原因和特殊原因;普通原因和特殊原因;普通原因与特殊原因举例;普通原因、特殊原因示意图;局部措施和对系统采取措施;局部措施、系统措施示意图;过程控制系统;A.过程的理解;B.统计过程控制思想;C.数据类型;D.正态分布简介;D.正态分布简介;D.正态分布简介;;D.正态分布简介;D.正态分布简介;D.正态分布简介;E.统计控制状态;E.统计控制状态;F.防止两类错误;管制界限和规格界限;过程控制和过程能力;过程控制和过程能力;持续改进;过程改进循环;控制图示例:;控制图原理说明;;控制图所用的统计原理;控制图—过程控制的工具;控制图的目的;控制图的益处;计量型控制图

平均数与极差控制图(Chart)

平均数与标准差控制图(Chart)

中位数与极差控制图(Chart)

个別值与移动极差控制图(chart)

计数值控制图

不良率控制图(Pchart)

不良数控制图(Pnchart,又称npchart或dchart)

缺点数控制图(Cchart)

单位缺点数控制图(Uchart);分析用控制图：根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限，画出控制图，以便分析和判断过程是否处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时，首先找出原因，采取措施，然后重新抽取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。

控制用控制图：经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求，此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进行控制。;控制图种类(依用途来分);??种控制图应用示意说明;控制图的选择;CASESTUDY;计量型数据控制图;与过程有关的说明;计量型数据控制图应用前提;大多过程和其输出具有可测量的特性；

量化的值比简单的是—否陈述包含的信息更多；

对较少的件数检查，可获得更多的有关过程的信息；

因只需检查少量的产品，可缩短零件生产和采取纠正措施之间的时间间隔；

可分析一个过程的性能和可量化所用的改进，为寻求持续改进提供信息。;建立控制图的四步骤;建立X-R图的步骤A;;每个子组平均值和极差计算;平均值和极差;Ｂ计算控制限;2020/8/24;上述公式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见下表：;Ｃ过程控制解释;控制图的判读;控制图的判读;控制图的判读;控制图的观察分析;控制图的观察分析;控制图的观察分析;控制图的观察分析;控制图的观察分析;当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控制限，将其作为将来的一段时期的控制限。

当子组容量变化时（例如：减少样本容量，增加抽样频率），应调整中心限和控制限。方法如下：

估计过程标准偏差（用σ?表示），用现有的子组容量计算：

σ?=R/d2

式中R为子组极差均值，d2为随样本容量变化的常数，如下表

按照新的子组容量查表得到系数d2、D3、D4和A2，计算新的极差和控制限。

;为继续进行控制延长控制限;Ｄ过程能力解释;前提假设：

过程处于统计稳定状态；

过程的各测量值服从正态分布；

工程及其它规范准确地代表顾客的需求；

设计目标值位于规范的中心；

测量变差相对较小

前提说明：

总存在抽样变差；

没有“完全”受统计控制过程；

实际分布不是完美的正态分布;计算过程能力;制程能力指标Ca;制程能力指标Cp;制程能力指标Cpk;当Cpk1说明制程能力差，不可接受；

1≤Cpk≤1.33,说明制程能力可以，但需改善；

1.33≤Cpk≤1.67,说明制程能力正常；

1.67Cpk，说明制程能力良好。;改善过程能力;改善过程能力;绘制并分析修改后的过程控制图;制程绩效指针的计算，其估计的标准差为总的标准差，包含了组内变异以及组间变异