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一维、二维几何尺寸测量校准规范

1范围

本规范适用于一维、二维尺寸以及角度的测量。

2引用文件

本规程引用下列文件：

JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示JJF1071-2010国家计量校准规范编写规则JJF1094-2002测量仪器特性评定

GB/T18780.1-2002产品几何量技术规范（GPS）几何要素第1部分：基本术语和定义

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。

3概述

一维测量是单一轴向尺寸测量；二维测量是平面坐标尺寸测量，包含平面内任意点与点之间、点与线之间、线与线之间的测量。

一维尺寸测量的方法有很多，可分为直接测量和比较测量，测长机（仪）、光学计、工具显微镜、影像仪器都可进行测量。

二维尺寸测量和角度测量一般是直接测量，主要测量仪器有工具显微镜、影像仪等，间接测量角度的主要测量仪器有正弦规等。

4计量特性

4.1尺寸测量

一维尺寸测量范围≤2000mm；

二维尺寸测量范围≤400mm×500mm；

(例如：校棒、测杆、圆周校棒、足迹尺、比例尺、多功能孔距测量器、划格器、指环棒等)

4.2角度

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角度测量范围：（0～360）°

(例如：量角器、关节量角器、扇形板、量锥等)

5校准条件和校准设备控制

5.1环境条件要求详见表1

表1环境条件

测量方法

测量范围（mm）

环境温度(℃)

平衡温度时间（h）

一维测量

L≤2000

（20±2）

4

二维测量

L≤400×500

（20±2）

4

5.2校准项目和校准用设备

校准项目和校准用设备见表2。

表2校准项目和校准用设备

序号

校准项目

校准用设备及技术要求

1

尺寸

工具显微镜：测量范围：100mm×200mm，最大

允许误差MPE:±（1+L/100）μm

影像仪：测量范围：400mm×500mm，最大允许

误差MPE:±（2+L/200）μm

测长机：测量范围：（0～2000）mm，最大允许

误差MPE:±（0.5+L/100）μm

（其中L单位为mm）

2

角度

测量范围：（0~360）°

工具显微镜：测角目镜：MPE:±1′

光学分度台：MPE:±10″

影像仪：MPE:±1′

正弦规：0级

6校准项目和校准方法

校准前，首先检查被校准件外观及各部分相互作用，采用手动和目力观察。应无毛刺、锈蚀、断线等影响计量性能的缺陷。

在确定没有影响计量特性的因素后再进行校准。

6.1尺寸测量

一维、二维几何尺寸测量方法众多，测长机、测长仪、光学计、工具显微镜、影像仪测量时应按照仪器相关使用说明书的要求进行操作。测长机、测长仪、光学计的

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测量方法可参照JJG146-2011《量块检定规程》和JJG343-2012《光滑极限量规检定规程》执行，本规范主要针对检定规程/校准规范以外的常用仪器测量部分进行补充，重点是针对工具显微镜、影像仪的测量。

6.1.1影像法测量

影像法测量可进行一维和二维测量，此方法所用仪器主要是工具显微镜和影像测量仪。首先将被测工件放置于工具显微镜或影像仪工作台上，调整被测工件，使所需测量面与测量视场面平行（所需测量轮廓在仪器视场中均应清晰），被测量的整个轮廓边沿清晰成像于视场中。

平面尺寸测量（含一维和二维测量），根据尺寸大小选择测量仪器。对于二维尺寸不大于200mm×100mm的工件可在万能工具显微镜上测量；对于二维尺寸不大于400mm×500mm且形状复杂的工件可在影像测量仪上测量。具体步骤为：测量用仪器处于正常工作状态即通电、X轴Y轴或测角分划板归零等基本要求（物镜放大倍数的选择根据被测轮廓的大小确定为1X或3X或5X），再将被测工件放置在工作台上，调整工件所需测量轮廓与仪器导轨工作面基本平行（即在视场中轮廓均应清晰，无目力可见的模糊轮廓），调整标准仪器立柱使被测工件需测量轮廓的部分或全部轮廓清晰地呈现在视场中。

6.1.1.1点与点之间的距离：用目镜中的米字线中心对准被测轮廓的第一个测量点，在X轴和Y轴读数窗中分别读取坐标值（x1,y1）；然后移动工作台，使目镜中的米字线中心对准被测轮廓的另一个测量点，同样在X轴和Y轴读数窗中分别读取坐标值（x2,y2），则两点间的距离

当两点的中心连线与仪器的一个测量轴（X或Y）平行时，y1=y2,两点间的距离L=x1-x2。