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基于NIRS-XRF双光谱联合检测的煤质快速分析研究
一、引言
随着科技的不断进步,煤质分析在煤炭产业中扮演着越来越重要的角色。为了满足煤炭生产、加工和利用的需求,快速、准确的煤质分析技术成为了研究的热点。近红外光谱(NIRS)和X射线荧光光谱(XRF)是两种常用的煤质分析技术。本文将探讨基于NIRS-XRF双光谱联合检测的煤质快速分析技术,旨在提高煤质分析的准确性和效率。
二、NIRS与XRF技术概述
1.近红外光谱(NIRS)技术:NIRS技术是一种基于分子振动的光谱技术,能够提供煤中有机物和无机物的丰富信息。该技术具有快速、无损、非接触等优点,广泛应用于煤质分析领域。
2.X射线荧光
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