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电子科技大学半导体物理期末考试试卷a试题答案.docxVIP

电子科技大学半导体物理期末考试试卷a试题答案.docx

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电子科技大学半导体物理期末考试试卷a试题答案

一、选择题(每题2分,共10分)

1.半导体的导电机构是()

A.电子和空穴

B.只有电子

C.只有空穴

D.电子和离子

答案:A

2.以下哪种材料是本征半导体?()

A.硅

B.锗

C.砷化镓

D.磷化铟

答案:B

3.对于n型半导体,以下哪项说法正确?()

A.电子浓度大于空穴浓度

B.空穴浓度大于电子浓度

C.电子浓度等于空穴浓度

D.无法判断

答案:A

4.PN结的接触电势差是指()

A.P区与N区的电势差

B.P区与中性区的电势差

C.N区与中性区的电势差

D.P区与N区之间的电势差

答案:D

5.当温度升高时,半导体的电导率()

A.减小

B.增大

C.不变

D.无法判断

答案:B

二、填空题(每题2分,共10分)

1.半导体的导电机制主要是通过______和______进行的。

答案:电子、空穴

2.本征半导体的电阻率随温度升高而______。

答案:减小

3.对于n型半导体,掺杂元素通常是______。

答案:五价元素

4.PN结的正向电压是指______。

答案:P区接正极,N区接负极时的电压

5.半导体的光电效应是指______。

答案:光子能量大于半导体禁带宽度时,光子激发出电子空穴对的现象

三、判断题(每题2分,共10分)

1.非本征半导体的电导率仅由温度决定。()

答案:×(错误)

2.PN结的反向饱和电流随温度升高而增大。()

答案:√(正确)

3.对于p型半导体,掺杂元素通常是三价元素。()

答案:√(正确)

4.半导体的电阻率随温度升高而增大。()

答案:×(错误)

5.光电效应是半导体产生光生伏特效应的基础。()

答案:√(正确)

四、解答题(每题10分,共30分)

1.设有一个本征半导体硅,其禁带宽度为1.1eV。求在室温(300K)下,该硅的电子浓度和空穴浓度。

答案:

首先,计算本征载流子浓度公式:ni=BT^3/2exp(Eg/2kT)

其中,B为常数,T为温度(开尔文),Eg为禁带宽度,k为玻尔兹曼常数。

代入数据计算:

ni=(1.08×10^6)(300)^3/2exp(1.1/28.62×10^5300)

ni≈1.5×10^10cm^3

由于本征半导体的电子浓度等于空穴浓度,所以电子浓度和空穴浓度均为1.5×10^10cm^3。

2.有一n型半导体硅,掺杂浓度为5×10^15cm^3。求该半导体在室温下的电子浓度和空穴浓度。

答案:

由于n型半导体的电子浓度等于掺杂浓度,所以电子浓度n=5×10^15cm^3。

根据本征载流子浓度公式,计算空穴浓度p:

p=ni^2/n

p=(1.5×10^10)^2/(5×10^15)

p≈4.5×10^10cm^3

所以,该n型半导体硅在室温下的电子浓度为5×10^15cm^3,空穴浓度为4.5×10^10cm^3。

3.请简述PN结的形成过程及其原理。

答案:

PN结的形成过程如下:

(1)当P型和N型半导体接触时,P区的空穴会向N区扩散,N区的电子会向P区扩散。

(2)由于扩散运动,P区和N区分别形成正、负电荷的耗尽层。

(3)耗尽层内的电场会阻碍进一步的正电荷和负电荷的扩散,达到动态平衡。

(4)此时,P区和N区之间的电势差称为接触电势差,形成一个PN结。

原理:PN结的形成是基于半导体的掺杂特性和载流子的扩散运动。当P型和N型半导体接触时,由于两种半导体中载流子浓度不同,会导致载流子发生扩散运动。扩散运动使P区带正电,N区带负电,形成电场,阻碍进一步的正电荷和负电荷的扩散,从而达到动态平衡。

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