《互换性与技术测量》课件_第5章.ppt

5.5表面粗糙度的测量常用的表面粗糙度的测量方法有比较法、光切法、光波干涉法和针描法。这些方法基本上用于测量表面粗糙度的幅度参数。5.5.1比较法比较法是将被测零件表面与粗糙度样板直接进行比较的一种测量方法。它可以通过视觉、触觉或借助放大镜、比较显微镜,估计出表面粗糙度的值。这种方法广泛应用于生产实践中,评定各种机械加工(钻削、车削、铣削、磨削、刨削等)和电加工(线切割、电火花等)的低、中与较高精度的加工表面的粗糙度参数值。5.5.2光切法光切法是利用光切原理，即光的反射原理测量表面粗糙的一种方法。常用的仪器是光切显微镜（双管显微镜），该仪器适宜测量车、铣、刨或其他类似加工方法所加工的零件平面或外园表面。主要用来测量粗糙度参数Rz的值，其测量范围为0.8～80μm。5.5.2光切法光切法是利用光切原理,即光的反射原理测量表面粗糙度的一种方法。常用的仪器是光切显微镜(双管显微镜),该仪器适宜测量车、铣、刨或其他类似加工方法所加工的零件平面或外圆表面。光切法主要用来测量粗糙度参数Rz的值,其测量范围为0.8～80μm。图5－20(a)表示被测表面为阶梯面,其阶梯高度为h。由光源发出的光线经狭缝后形成一个光带,此光带与被测表面以夹角为45°的方向A与被测表面相截,被测表面的轮廓影像沿B向反射后可由显微镜中观察得到图5－20(b)。其光路系统如图5－20(c)所示,光源1通过聚光镜2、狭缝3和物镜5,以45°角的方向投射到工件表面4上,形成一窄细光带。光带边缘的形状,即光束与工件表面的交线,也就是工件在45°截面上的轮廓形状,此轮廓曲线的波峰在S1点反射,波谷在S2点反射,通过物镜5,分别成像在分划板6上的S1″和S2″点,其峰、谷影像高度差为h″。由仪器的测微装置可读出此值,按定义测出评定参数Rz的数值。图5－20光切显微镜工作原理图5.5.3针描法针描法是利用仪器的触针在被测表面上轻轻划过,被测表面的微观不平度将使触针作垂直方向的位移,再通过传感器将位移量转换成电量,经信号放大后送入计算机,在显示器上示出被测表面粗糙度的评定参数值。也可由记录器绘制出被测表面轮廓的误差图形。按针描法原理设计制造的表面粗糙度测量仪器通常称为轮廓仪。根据转换原理的不同,可以有电感式轮廓仪、电容式轮廓仪、电压式轮廓仪等。轮廓仪可测Ra、Rz、RSm及Rmr(c)等多个参数。除上述轮廓仪外,还有光学触针轮廓仪,它适用于非接触测量,以防止划伤零件表面。这种仪器通常直接显示Ra值,其测量范围为0.02～5μｍ。附表5-4Rmr(c)(%)的数值（GB/T1031—1995）注：选用支承长度率时，必须同时给出轮廓水平截距c的数值。c值多用Rz的百分数表示，其系列有5%、10%、15%、20%、25%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%。1.表面粗糙度符号图样上所标注的表面粗糙度符号是该表面完工后的要求。有关表面粗糙度的各项规定应按功能要求给定。当仅需加工(采用去除材料的方法或不去除材料的方法)但对表面粗糙度的其他规定没有要求时,允许只注表面粗糙度符号。当需要表示的加工表面对表面特征的其他规定有要求时,应在表面粗糙度符号的相应位置注上若干必要项目的表面特征规定。表面特征的各项规定在符号中的注写位置如图5－10所示。图5－10表面粗糙度的符号标注位置(1)位置a:注写表面粗糙度的单一要求,包括取样长度、表面粗糙度参数符号和极限值。书写方式为“取样长度/表面粗糙度参数符号极限值”,如:-0.8/Rz6.3。(2)位置a和b:当注写两个或多个表面粗糙度要求时,在位置a上注写第一个表面粗糙度要求,在位置b上注写第二个表面粗糙度要求,方法同(1)。如果有更多要求,图形符号应在垂直方向扩大,a和b的位置上移,其他表面粗糙度要求依次向下写。(3)位置c:注写加工方法、表面处理、涂层或其他工艺要求。(4)位置d:注写表面纹理和纹理方向。(5)位置e:注写所要求的加工余量,其数值单位为mm。2.表面粗糙度参数的标注表面粗糙度评定参数标注时,必须注出参数代号和相应数值,数值的默认单位为μm,数值判断的规则有两种:(1)16%规则:表示表面粗糙度参数的所有实测值中允许16%测得值超过规定值,此为默认规则;(2)最大规则:表示表面粗糙度参数的所有实测值不得超过规定值,参数代号中应加上“max”。表面粗糙度参数如果有极限值的要求,应在参数代号前加注极限代号“U”(上极限