- 1、本文档共4页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
汽车工艺与材料
2024年第5期AutomobileTechnologyMaterial2024No.5
车用氧传感器失效案例分析及微裂纹检测方法研究
孙东睿高宏宇王金兴欣白宇商安琪丛鑫
(中国第一汽车股份有限公司研发总院,长春130013)
摘要:为解决陶瓷片芯内部产生微裂纹而导致传感器总成失效的问题,研究分析了一种简单且无损检测陶
瓷片芯微裂纹的方法,该方法利用酒精对陶瓷良好的浸润性,可填充到裂纹中间,利用酒精与空气电导率的差
异,通过检测陶瓷片芯电流的变化快速判断片芯内部是否出现微裂纹;将该方法应用于某车型前氧传感器失效
案例分析,采用光学显微镜和高精度CT进一步证明了微裂纹的产生及原因;结果表明,酒精检测法可准确判断
陶瓷片芯内部产生微裂纹,裂纹产生的原因是加热器电压过高,内部热应力不均匀导致加热器电极与片芯主体
脱离,进而导致片芯内部产生微裂纹。
关键词:裂纹检测失效分析前氧传感器陶瓷片芯
中图分类号:U465.3文献标志码:BDOI:10.19710/J.cnki.1003-8817
AnalysisofFailureCasesofVehicleOxygenSensorsStudy
ofMicrocrackDetectionMethods
SunDongrui,GaoHongyu,WangJinxing,XinBaiyu,ShangAnqi,CongXin
(GlobalRDCenter,ChinaFAWCorporationLimited,Changchun130013)
Abstract:Inordertosolvetheproblemofmicrocracksintheceramicchipscausingfailureofthesensor
assembly,thisarticlestudiedandanalyzedasimpleandnon-destructivemethodfordetectingthemicrocracksinthe
ceramicchips,whichcanbefilledinthemiddleofthecrackbyusingthegoodwettabilityofalcoholtotheceramic,
andthedifferencebetweentheconductivityofalcoholandairwasusedtoquicklydeterminewhethertherewere
microcracksinthechipsbydetectingthechangeofthecurrentoftheceramicchips.Thismethodwasappliedtothe
casestudyofthefailureofthefrontoxygensensorofavehiclemodel.Thecauseofmicrocrackswasfurtherprovedby
opticalmicroscopyandhigh-precisionCT.Theresultsshowthatthealcoholdetectionmethodcouldaccurately
determinetheoccurrenceofmicrocracksinsideceramicchips,andthecauseofcracksisexcessivelyhighheater
voltage,andtheuneveninternalthermalstress,whichcausetheheaterelectrodetodetachfromthechips’body,
whichinturnleadstomicrocracksinsidethech
文档评论(0)