T_BDT 003—2024(高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备).pdf

ICS25.040.01

CCSL86

BDT

中国半导体行业协会团体标准

T/BDT003—2024

台

平

息

高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备

信

High-speedanalog-to-digitalconverter（ADC）testequipment

准

标

体（发布稿）

团

国

全

2024-10-09发布2024-10-10实施

中国半导体行业协会  发布

台

平

息

信

准

标

体

团

国

全

T/BDT003—2024

目次

前言II

台

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

平

4要求1

4.1外观与结构1

4.2外形尺寸2

4.3性能指标2

息

4.4环境适应性2

4.5外壳防护等级2

4.6电磁兼容性2

4.7电气安全2

信

4.8噪声2

4.9限用物质限量2

4.10稳定性2

准

5试验方法3

5.1试验条件3

5.2外观与结构3

5.3外形尺寸3

标

5.4性能指标3

5.5环境适应性3

5.6外壳防护等级4

5.7电磁兼容性4

体

5.8电气安全4

5.9噪声4

5.10限用物质限量4

5.11稳定性4

团

6检验规则4

6.1检验分类4

6.2出厂检验4