CESA-2021-3-004《⼈⼯智能芯片 计算机视觉推理用云侧深度学习芯片测试指标与测试方法》团体标准（征求意见稿）.pdf

ICS31.200

CCSL56

团体标准

T/CESAXXX-202X

人工智能芯片计算机视觉推理用云侧深度

学习芯片测试指标与测试方法

AIchips-Computervision-Testmetricsandtestmethodofdeeplearningchipsfor

cloudsideinference

征求意见稿

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申

请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利

申请号和申请日期。

202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/CESAXXXX—202X

目次

前  言IV

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语1

5测试说明1

5.1测试环境2

5.2测试对象2

5.3测试内容2

6测试指标2

6.1基本技术规格2

6.2功能3

6.3性能5

6.4软件生态6

6.5应用场景测试6

7测试方法7

7.1基本技术规格7

7.2功能7

7.3性能8

7.4软件生态9

7.5应用场景测试9

附录A（规范性）推理测试参考框架11

附录B（规范性）算子及模型列表12

附录C（规范性）软件生态评测指标16

III

T/CESAXXXX—202X

前  言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

本文件由上海商汤科技开发有限公司提出。

本文件由中国电子技术标准化研究院、中国电子工业标准化技术协会归口。

本文件起草单位：。

本文件主要起草人：。

IV

T/CESAXXXX—202X

人工智能芯片计算机视觉推理用云侧深度学习芯片测试指标与测

试方法

1范围

本文件规定了计算机视觉领域面向云侧的深度学习推理芯片的基本规格、功能、性能、软件生态、

应用场景等评测指标及测试方法。

本文件适用于芯片生产厂商、应用厂商及第三方机构对计算机视觉领域面向云侧的深度学习推理芯

片进行测试与评估,也适用于计算机视觉领域深度学习推理芯